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专利号: 2022104345848
申请人: 佛山市川东磁电股份有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-10-14
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种温度传感器测试设备,其特征在于,所述温度传感器测试设备包括:m个标定不同预设温度值的恒温槽,恒温槽内存储有流体介质;

待测温度传感器,至少部分浸入恒温槽内的流体介质中,用于感应流体介质温度并根据流体介质温度生成初始温度信号;

温度值获取模块,与待测温度传感器连接,用于接收初始温度信号以生成初始温度值;

拟合曲线获取模块,用于获取a个预设温度值与初始温度值之间的差值以及对应的初始温度值之间的散点图,并对散点图进行拟合以获取拟合曲线;

补偿模块,用于根据拟合曲线获取温度补偿值并利用温度补偿值对待测温度传感器的实际温度值进行补偿;

其中,a≤m;

所述拟合曲线获取模块包括:

拟合精度获取单元,用于计算首次获取的拟合曲线的拟合精度δ;

曲线拟合单元,用于判断拟合精度是否小于预设阈值δmax,若拟合精度大于预设阈值,则重新获取多个预设温度值与初始温度值之间的差值以及对应的初始温度值之间的散点图,并对重新获取得到的散点图进行拟合以获取新的拟合曲线,直至拟合精度小于预设阈值;

所述拟合精度获取单元根据公式 计算拟合曲线的拟合精度;

其中,Ti表示第i个补偿后的实际温度值,Ti'表示第i个预设温度值,b表示拟合曲线的次数。

2.如权利要求1所述的一种温度传感器测试设备,其特征在于,拟合曲线的次数为3或

4。

3.一种温度传感器补偿方法,应用于如权利要求1‑2中任意一项所述的温度传感器测试设备,其特征在于,所述温度传感器补偿方法包括如下步骤:S1,提供m个存储有流体介质且分别标定不同预设温度值的恒温槽;

S2,将待测温度传感器至少部分浸入恒温槽内的流体介质中,感应流体介质温度并根据流体介质温度生成初始温度信号;

S3,接收初始温度信号以生成初始温度值;

S4,获取a个预设温度值与初始温度值之间的差值以及对应的初始温度值之间的散点图,并对散点图进行拟合以获取拟合曲线;

S5,根据拟合曲线获取温度补偿值并利用温度补偿值对待测温度传感器的实际温度值进行补偿。

4.如权利要求3所述的一种温度传感器补偿方法,其特征在于,在步骤S4中,获取a个预设温度值与初始温度值之间的差值以及对应的初始温度值之间的散点图,并对散点图进行拟合以获取拟合曲线的具体方法包括如下步骤:S40,计算拟合曲线的拟合精度δ;

S41,判断拟合精度是否小于预设阈值δmax,若拟合精度大于或等于预设阈值,则重新获取多个预设温度值与初始温度值之间的差值以及对应的初始温度值之间的散点图,并对重新获取得到的散点图进行拟合以获取新的拟合曲线,直至拟合精度δ小于预设阈值δmax。

5.如权利要求4所述的一种温度传感器补偿方法,其特征在于,所述拟合精度获取单元根据公式 计算拟合曲线的拟合精度;

其中,Ti表示第i个补偿后的实际温度值,Ti'表示第i个预设温度值,b表示拟合曲线的次数。

6.一种计算机可读存储流体介质,其特征在于,所述计算机可读存储流体介质存储有计算机程序,当所述计算机程序被执行时实现如权利要求3‑5中任一项所述的温度传感器补偿方法。

7.一种电子设备,包括存储器,处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求3~5任一项所述的温度传感器补偿方法。