1.一种纳米线与纳米线间界面作用力测量方法，包括以下步骤：

步骤1、构建纳米线与纳米线间接触电阻测量电路，所述纳米线与纳米线间接触电阻测量电路包括第一导电基底、第一纳米线、第二导电基底和第二纳米线，所述第一纳米线的尾部固定于所述第一导电基底并形成电连接，所述第二纳米线的尾部固定于所述第二导电基底并形成电连接，所述第一纳米线的头部与所述第二纳米线的头部平行搭接构成电路通路；

步骤2、以垂直于第二纳米线长度方向的方向使所述第一纳米线的头部与所述第二纳米线的头部产生剥离趋势，由所述第一纳米线或所述第二纳米线的头部的形变量根据以下公式确定所述第一纳米线与第二纳米线间界面作用力，并测量不同形变量下纳米线与纳米线间接触电阻； 其中q为所述第一纳米线与第二纳米线间界面作用力，δ为第一纳米线或第二纳米线的头部在垂直于第二纳米线长度方向的方向上的形变位移，L1为纳米线头部伸出导电基底的长度，L0为第一纳米线与第二纳米线搭接长度，E为纳米线弹性模量，I为转动惯量；

步骤3、依据所述步骤2中界面作用力及测得的所述纳米线与纳米线间接触电阻的数据进行线性拟合，确定纳米线与纳米线间界面作用力与接触电阻关系参数，进而得到纳米线与纳米线间界面作用力与接触电阻的关系；纳米线与纳米线间界面力与接触电阻的关系表‑m述为R=KP ，其中R为接触电阻，K为材料性能和材料表面膜性能系数，P为纳米线与纳米线间界面作用力，m为膜破碎相关指数，所述步骤3中的纳米线与纳米线间界面作用力与接触电阻关系参数为K和m；

步骤4、将步骤1构建的所述纳米线与纳米线间接触电阻测量电路置于待研究影响因素可变环境下，根据测得的第一纳米线与第二纳米线间接触电阻由所述步骤3确定的纳米线与纳米线间界面作用力与接触电阻的关系得到纳米线与纳米线间界面作用力。

2.根据权利要求1所述的纳米线与纳米线间界面作用力测量方法，其特征在于，所述第一导电基底设置于固定平台上，所述第二导电基底设置于移动平台上，所述步骤2中以垂直于第二纳米线长度方向的方向使所述第一纳米线与第二纳米线的头部产生剥离趋势是移动所述移动平台使所述第一纳米线与第二纳米线的头部背向移动产生剥离趋势。

3.根据权利要求1所述的纳米线与纳米线间界面作用力测量方法，其特征在于，所述第一纳米线与所述第一导电基底相接触的部分均固定连接，所述第二纳米线与所述第二导电基底相接触的部分均固定连接。

4.根据权利要求1所述的纳米线与纳米线间界面作用力测量方法，其特征在于，所述第一纳米线与所述第一导电基底以及所述第二纳米线与所述第二导电基底间使用导电胶固定连接。