1.一种用于扁平引脚芯片的测试装置，包括安装基座(1)、测试台(2)和金属触点(6)，其特征在于：所述测试台(2)安装在安装基座(1)上表面，所述测试台(2)内部装嵌有支撑板(3)，所述支撑板(3)上表面两端均安装有安装板(5)，两所述安装板(5)与支撑板(3)之间滑动配合，两所述安装板(5)为“L”形板体结构，两所述安装板(5)一端上表面均设置有若干活动槽(7)，所述活动槽(7)内部安装有连接杆(8)，所述金属触点(6)一端套嵌在连接杆(8)周侧面，所述金属触点(6)一端与连接杆(8)之间转动配合，所述金属触点(6)另一端安装有延伸端(10)，所述金属触点(6)一表面与安装板(5)另一端之间安装有复位弹簧(9)。

2.根据权利要求1所述的一种用于扁平引脚芯片的测试装置，其特征在于，所述支撑板(3)一表面贯穿有滑动槽(11)，所述支撑板(3)下方设置有空腔(4)，所述空腔(4)贯穿测试台(2)一表面。

3.根据权利要求2所述的一种用于扁平引脚芯片的测试装置，其特征在于，两所述安装板(5)下表面均安装有滑杆(12)，所述滑杆(12)一端通过滑动槽(11)延伸至空腔(4)内部，所述滑杆(12)与滑动槽(11)之间滑动配合。

4.根据权利要求3所述的一种用于扁平引脚芯片的测试装置，其特征在于，所述滑杆(12)一端安装有延伸杆(13)，所述延伸杆(13)通过空腔(4)延伸至测试台(2)外部，所述测试台(2)两侧均安装有侧板(14)。

5.根据权利要求4所述的一种用于扁平引脚芯片的测试装置，其特征在于，两所述侧板(14)一表面均安装有第一电动推杆(15)，两所述第一电动推杆(15)一端分别与两延伸杆(13)一表面之间相互配合，两所述侧板(14)上表面均设置有插槽(16)。

6.根据权利要求5所述的一种用于扁平引脚芯片的测试装置，其特征在于，两所述插槽(16)内部卡接有顶板(17)，所述顶板(17)下表面安装有第二电动推杆(18)。

7.根据权利要求6所述的一种用于扁平引脚芯片的测试装置，其特征在于，所述第二电动推杆(18)下表面安装有压板(19)，所述压板(19)下表面与测试台(2)之间相互配合。