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专利号: 2021218605771
申请人: 武汉蓝锐达信息技术有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
更新日期:2024-09-06
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种使用方便的分析天平称样装置,包括外壳(1),其特征在于:所述外壳(1)上端活动连接有闭合板(3),所述闭合板(3)右端固定连接有推块(2),所述闭合板(3)左端活动连接有滚轮(4),所述闭合板(3)底部固定连接有导向杆(5),所述导向杆(5)底部活动连接有限位板(15),所述限位板(15)下端固定连接有拉伸弹簧(6),所述闭合板(3)底部固定连接有连接杆(7),所述连接杆(7)下端活动连接有导柱(8),所述导柱(8)下端固定连接有聚能弹簧(9),所述聚能弹簧(9)下端固定连接有卡块(10),所述卡块(10)左端活动连接有抗阻机构(11),所述卡块(10)底部固定连接有连接弹簧(12),所述连接弹簧(12)底部固定连接有固定板(13),所述固定板(13)底部固定连接有气囊(14)。

2.根据权利要求1所述的一种使用方便的分析天平称样装置,其特征在于:所述滚轮(4)位于外壳(1)左端,所述外壳(1)上端为斜坡形,所述闭合板(3)左端为斜坡形。

3.根据权利要求1所述的一种使用方便的分析天平称样装置,其特征在于:所述导向杆(5)四个,位于连接杆(7)左右两侧,所述连接杆(7)靠近闭合板(3)右端。

4.根据权利要求1所述的一种使用方便的分析天平称样装置,其特征在于:所述卡块(10)上端为梯形,所述抗阻机构(11)有两个,且位于卡块(10)左右两侧,所述抗阻机构(11)内部安装有弹簧。

5.根据权利要求1所述的一种使用方便的分析天平称样装置,其特征在于:所述气囊(14)位于外壳(1)内壁下端,所述气囊(14)内部与天平内部相连通。

6.根据权利要求1所述的一种使用方便的分析天平称样装置,其特征在于:所述拉伸弹簧(6)位于抗阻机构(11)上端,所述拉伸弹簧(6)位于外壳(1)内壁右端。