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专利号: 2021212062339
申请人: 南通力伟建筑设备有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
更新日期:2025-07-25
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种光耦合器测试分析平台,包括光耦合器主体(1),其特征在于:所述光耦合器主体(1)上连接有调节件,调节件上连接有保护罩(2),所述光耦合器主体(1)上连接有支撑件,所述保护罩(2)上开设有用于固定支撑件的卡槽(7)。

2.根据权利要求1所述的一种光耦合器测试分析平台,其特征在于:调节件包括连杆(6),所述连杆(6)的数量为两个,所述两个连杆(6)分别安装在光耦合器主体(1)的两侧,所述连杆(6)的两端均连接有转轴,所述连杆(6)的一端通过转轴连接在光耦合器主体(1)上,所述连杆(6)的另一端通过转轴连接在保护罩(2)的内壁上。

3.根据权利要求1所述的一种光耦合器测试分析平台,其特征在于:支撑件包括挂钩杆(5)与固定块(4),所述光耦合器主体(1)上开设有凹槽(3),所述挂钩杆(5)的数量为两个且分别连接在固定块(4)的两侧,所述固定块(4)插接有转轴且转轴的两端伸出固定块(4)外,所述两个挂钩杆(5)分别转动连接在转轴的两端,所述固定块(4)安装在凹槽(3)的一端内壁。

4.根据权利要求3所述的一种光耦合器测试分析平台,其特征在于:所述挂钩杆(5)的一端为勾状结构,所述挂钩杆(5)的一端伸入卡槽(7)内,所述卡槽(7)上连接有横杆,所述挂钩杆(5)与横杆连接。