1.一种半导体探针测试台，包括探针台、设置在所述探针台上的摆放台、设置在所述摆放台上方一侧的探针以及安装在所述摆放台正上方的显微镜，其特征在于：所述探针台下方设有底座，所述底座内设有用于带动所述探针台旋转的旋转组件、用于驱动所述旋转组件旋转的驱动组件以及用于带动所述探针台升降的升降组件；

所述旋转组件包括轴杆、从动齿轮以及转盘，所述轴杆通过轴承连接在底座内部中心处，所述从动齿轮固定在轴杆外部，所述转盘转动连接在底座上端，所述轴杆上端贯穿底座并与转盘底部固定，所述转盘上表面呈环形均匀嵌入固定有至少四根底缸，所述底缸内部均滑动连接有滑杆，所述滑杆上端延伸出底缸并与探针台底部固定；

所述升降组件包括两个电动推杆，所述电动推杆分别安装在底座内部前后两侧，所述电动推杆动力端贯穿底座顶部。

2.如权利要求1所述的一种半导体探针测试台，其特征在于：所述驱动组件包括电机和连接在所述电机动力端的主动齿轮，所述电机安装在底座内部顶端，所述主动齿轮位于从动齿轮一侧且与从动齿轮啮合。

3.如权利要求1所述的一种半导体探针测试台，其特征在于：所述升降组件还包括两块圆板和两块插块，所述圆板一一对应固定在电动推杆动力端，所述插块一一对应固定在圆板上端。

4.如权利要求3所述的一种半导体探针测试台，其特征在于：所述探针台下端外侧设有环形滑道，所述探针台下端且位于环形滑道内外两侧分别固定有内限位环和外限位环，所述插块插入环形滑道内部并与环形滑道滑动连接，所述圆板滑入内限位环与外限位环之间分别与内限位环和外限位环滑动连接。

5.如权利要求4所述的一种半导体探针测试台，其特征在于：所述插块上端设有滚动槽，所述滚动槽内部滚动连接有钢珠，所述钢珠与环形滑道滚动连接。

6.如权利要求2所述的一种半导体探针测试台，其特征在于：所述探针台前端安装有开关座，所述开关座前端左右两侧分别设有一对电动推杆按钮以及电机按钮，所述电机按钮与所述电机电性连接。

7.如权利要求6所述的一种半导体探针测试台，其特征在于：所述电动推杆按钮与电动推杆电性连接。