1.一种低温测试台机架，其特征在于，包括上壳罩和下台面，上壳罩设置在下台面上，上壳罩具有上接触面，下台面具有下接触面，上接触面和下接触面相对设置，上、下接触面之间设有密封材料，所述上接触面设有镂空部和穿线孔，所述下接触面设有配接部和对接孔，上壳罩和下台面组装后，镂空部与配接部对应设置，穿线孔与对接孔对应设置。

2.根据权利要求1所述的低温测试台机架，其特征在于，所述镂空部和配接部的尺寸相同，所述穿线孔与对接孔的尺寸相同。

3.根据权利要求2所述的低温测试台机架，其特征在于，所述上壳罩和下台面设有矩形孔，矩形孔位于穿线孔一侧。

4.根据权利要求3所述的低温测试台机架，其特征在于，所述上壳罩和下台面分别具有容纳腔并通过镂空部和配接部连通。

5.根据权利要求1所述的低温测试台机架，其特征在于，所述密封材料设置在上接触面或下接触面上。

6.根据权利要求1所述的低温测试台机架，其特征在于，所述密封材料为密封垫。

7.根据权利要求1所述的低温测试台机架，其特征在于，所述穿线孔设置在镂空部一侧。

8.根据权利要求1所述的低温测试台机架，其特征在于，所述上壳罩内设有检测装置，所述下台面内设有电气箱，所述穿线孔位于电气箱上方。

9.根据权利要求1所述的低温测试台机架，其特征在于，所述上壳罩一侧设有侧腔室，所述穿线孔设置在侧腔室中。