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专利号: 2021114218562
申请人: 西安邮电大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-11-27
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种碳纳米管手性分子探测装置,其特征在于,包括衬底和碳纳米管层,所述碳纳米管层置于所述衬底上,所述碳纳米管层包括周期排列的周期单元,所述周期单元包括平行排列的第一碳纳米管和第二碳纳米管,所述第一碳纳米管和所述第二碳纳米管不接触;应用时,将手性分子置于所述第一碳纳米管和所述第二碳纳米管之间,圆偏振光从装置的顶部照射,通过探测圆二色性,实现手性分子的手性探测。

2.如权利要求1所述的碳纳米管手性分子探测装置,其特征在于:所述第一碳纳米管内掺杂硝酸。

3.如权利要求2所述的碳纳米管手性分子探测装置,其特征在于:所述第二碳纳米管内掺杂硝酸。

4.如权利要求1所述的碳纳米管手性分子探测装置,其特征在于:所述第一碳纳米管和所述第二碳纳米管之间的距离小于10纳米。

5.如权利要求1所述的碳纳米管手性分子探测装置,其特征在于:所述周期大于1微米、小于4微米。

6.如权利要求1‑5任一项所述的碳纳米管手性分子探测装置,其特征在于:还包括第一石墨烯层,所述第一石墨烯层置于所述碳纳米管层上。

7.如权利要求6所述的碳纳米管手性分子探测装置,其特征在于:还包括第二石墨烯层,所述第二石墨烯层置于所述衬底上,所述碳纳米管层置于所述第二石墨烯层上。

8.如权利要求7所述的碳纳米管手性分子探测装置,其特征在于:所述第二石墨烯层的厚度大于所述第一石墨烯层的厚度。

9.如权利要求8所述的碳纳米管手性分子探测装置,其特征在于:所述衬底为二氧化硅。