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专利号: 2021105449163
申请人: 厦门多彩光电子科技有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-08-30
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种紫外固晶胶质量评估方法,其特征在于,该方法包括以下步骤:S1、在散热基底上设置多组封胶筒,所述散热基底的厚度为0.5~1.5mm,每组封胶筒均相同且数量均为n,n≥3,所述封胶筒的两端均具有开口结构且其中一开口端朝下贴设于散热基底的上表面;

S2、往封胶筒内注入等量的待测固晶胶,同一组封胶筒内注入相同的待测固晶胶,不同组封胶筒内注入不同的待测固晶胶,之后烘烤至固晶胶固化以形成固晶胶柱,所述固晶胶柱固接于散热基底的上表面;

S3、选取每组固晶胶柱中的任意一个,测试其在常温下的透光率以及脱离散热基底的推力值,记为(T0,F0);

S4、在剩余固晶胶柱的上方采用紫外灯照射并将散热基底加热至130~150℃这一范围内的任一温度,同时对剩余固晶胶柱提供大小为5~10N的恒定推力,剩余固晶胶柱的紫外照射方式和强度以及恒定推力大小均相同,在不同时段测试固晶胶柱的透光率以及脱离散热基底的推力值,记为(Tt1,Ft1)、(Tt2,Ft2)、(Tt3,Ft3)……(Ttn‑1,Ftn‑1);

S5、根据固晶胶柱在各时间段的透光率以及脱离散热基底推力值的衰减程度综合判断待测固晶胶的质量;

步骤S5中,根据固晶胶柱在各时间段的透光率以及脱离散热基底推力值的衰减程度综合判断待测固晶胶质量的方法采用相对法或绝对法;

所述相对法的具体判断过程包括:根据步骤S3和步骤S4所得数据得到同一组固晶胶柱在各时间段的透光率以及脱离散热基底推力值的衰减曲线,之后通过比较不同组固晶胶柱在各时间段的透光率以及脱离散热基底推力值的衰减曲线判断各组固晶胶之间的相对质量;当待测固晶胶的种类为两种时,将两种待测固晶胶分别记为胶A1和胶A2,若胶A1的透光率以及脱离散热基底推力值的衰减程度均小于胶A2则表明胶A1的质量更优,若胶A1脱离散热基底推力值衰减程度大于胶A2、胶A1透光率衰减程度小于胶A2同时胶A2在120h时的透光率为95%以上则表明胶A2的质量更优;当待测固晶胶的种类为三种以上时,将透光率衰减程度最大以及脱离散热基底推力值衰减程度最大的固晶胶排除,剩余固晶胶质量较优;

所述绝对法的具体判断过程包括:根据步骤S3和步骤S4所得数据得到同一组固晶胶柱在各时间段的透光率以及脱离散热基底推力值的衰减曲线,当透光率的衰减率控制在

4.2%/h以下且脱离散热基底推力值的衰减率控制在0.009g/h以下时,则表明该待测固晶胶的质量满足要求,反之则不满足要求。

2.根据权利要求1所述的紫外固晶胶质量评估方法,其特征在于,步骤S1中,所述散热基底的材质为镀银红铜或陶瓷。

3.根据权利要求1所述的紫外固晶胶质量评估方法,其特征在于,步骤S1中,每组封胶筒的数量n为6~10。

4.根据权利要求1~3中任意一项所述的紫外固晶胶质量评估方法,其特征在于,步骤S2中,所述待测固晶胶的注入量使所得固晶胶柱的厚度为2.5~3.5cm。

5.根据权利要求1~3中任意一项所述的紫外固晶胶质量评估方法,其特征在于,步骤S2中,所述烘烤的条件包括温度为130~180℃,时间为0.5~2h。

6.根据权利要求1~3中任意一项所述的紫外固晶胶质量评估方法,其特征在于,步骤2

S4中,所述紫外灯照射采用垂直照射的方式进行,且紫外灯照射的强度为25~35mW/m。

7.根据权利要求1~3中任意一项所述的紫外固晶胶质量评估方法,其特征在于,步骤S4中,所述恒定推力通过在固晶胶柱的一侧设置弹簧加以实现。

8.根据权利要求1~3中任意一项所述的紫外固晶胶质量评估方法,其特征在于,步骤S4中,将散热基底加热至130~150℃的方式为在散热基底的下表面均匀设置若干加热模块,所述加热模块的设置密度以使得整个散热基底各个位置的温度基本一致为准。

9.根据权利要求1~3中任意一项所述的紫外固晶胶质量评估方法,其特征在于,每组封胶筒的数量n为8,且步骤S4中,所述散热基底的加热时长为168h,分别在24h、48h、72h、

96h、120h、144h和168h时测试固晶胶柱的透光率以及脱离散热基底的推力值,记为(T24,F24)、(T48,F48)、(T72,F72)、(T96,F96)、(T120,F120)、(T144,F144)以及(T168,F168)。