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专利号: 2021101519580
申请人: 深圳安捷丽新技术有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-08-12
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.SSD主控芯片中加速运算的优化方法,其特征在于,包括如下步骤:获取输入的被乘数Y和乘数X,所述被乘数Y和乘数X为二进制数值,所述被乘数Y位宽和乘数X位宽都为N位,其中乘数Y和乘数X的最高位为符号位;

依次获取乘数X二进制数值中每相邻三位数值大小,根据预设的表格匹配得到对应的部分积E,所述表格为下表:

在所述表格中,相邻三位数值位置根据X2i+1、X2i、X2i‑1确定,所述X2i+1为乘数X的第2i+1比特位,所述X2i为乘数X的第2i比特位,所述X2i‑1为乘数X的第2i‑1比特位;i的值为0到((N+

1)/2)‑1的整数,X‑1认定为0;每个i对应有一个部分积E;

2i

将每个相邻三位数值的部分积E和对应的系数2 输入到第一乘法器,第一乘法器将部

2i

分积E乘上对应的系数2 ,得到第一相乘结果分别输入到第一加法器;

第一加法器将输入的每个第一相乘结果进行累加,得到第一累加值,并输入到减法器;

2i

第二乘法器将每个系数2 分别乘上补偿值1<<(N+1),得到第二相乘结果分别输入到第二加法器;

第二加法器将输入的每个第二相乘结果进行累加,得到第二累加值,并输入到减法器;

减法器将第一累加值减去第二累加值,得到被乘数Y和乘数X的乘积结果并输出。

2.根据权利要求1所述的SSD主控芯片中加速运算的优化方法,其特征在于:所述部分

2i

积E乘上对应的系数2 包括步骤:将所述部分积E左移2i位。

3.根据权利要求1所述的SSD主控芯片中加速运算的优化方法,其特征在于:所述系数

2i

2 分别乘上补偿值1<<(N+1)包括步骤:将补偿值左移2i位。

4.根据权利要求1所述的SSD主控芯片中加速运算的优化方法,其特征在于:在进行累加时需要扩展高位数,则将进行累加计算结果的高位补偿为0。

5.根据权利要求1所述的SSD主控芯片中加速运算的优化方法,其特征在于:所述被乘数Y和乘数X为SSD主控芯片内部产生的数值。

6.根据权利要求1所述的SSD主控芯片中加速运算的优化方法,其特征在于:所述补偿值为1<<(N+1)再加上一个大于0的附加值,所述表格中的每个部分积E也分别加上所述附加值。

7.SSD主控芯片加速运算装置,其特征在于:包括存储器、处理器,所述存储器上存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1到6任意一项所述方法的步骤。