1.一种防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置，其特征在于，所述装置包括：关键信号存储单元，用于存储关键信号和关键信号对应的路径信息，所述关键信号包括多个变化值；

仿真电路单元，用于接收测试激励信息进行仿真测试；所述测试激励信息包括所述关键信号；

关键信号监控单元，用于在仿真测试时，根据所述关键信号对应的路径信息监控所述关键信号，并在所述关键信号的变化值发生变化时，记录当前时间戳信息，并将当前时间戳信息存储至变化时间存储单元中；

电磁辐射计算单元，用于计算待测电路在整个仿真过程中的电磁辐射仿真数据，并将所述电磁辐射仿真数据存储于电磁辐射信息存储单元中；

电磁辐射分析单元，用于根据所述变化时间存储单元中存储的时间戳信息计算变化时间区，以及根据所述电磁辐射信息存储单元中的电磁辐射仿真数据输出同一关键信号在所述变化时间区对应的电磁辐射信息，并分析同一关键信号在所述变化时间区对应的电磁辐射信息是否存在相关性，若是则导出相关数据；

所述分析同一关键信号在所述变化时间区对应的电磁辐射信息是否存在相关性包括：若所述关键信号为某一变化值时在所述变化时间区对应的电磁辐射信息与其他变化值在所述变化时间区对应的电磁辐射信息的差异大于预设误差时，则判定关键信号在为该变化值时的电磁辐射信息存在相关性；

所述变化时间区是指在同一次仿真测试中，当前关键信号的变化值发生变化的时间戳信息与上一次该关键信号的变化值发生变化的时间戳信息的差值时间段。

2.如权利要求1所述的防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置，其特征在于，所述装置还包括：仿真波形存储单元，用于存储仿真电路单元进行仿真测试得到的仿真波形数据；

逻辑综合单元，用于对待测电路进行逻辑综合运算，得到网表信息；

ICC布局布线单元，用于根据所述网表信息计算电磁参数文件信息；

所述电磁辐射计算单元用于计算待测电路在整个仿真过程中的电磁辐射仿真数据包括：所述电磁辐射计算单元用于获取所述仿真波形数据和所述电磁参数文件信息，以计算待测电路在整个仿真过程中的电磁辐射仿真数据。

3.如权利要求1所述的防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置，其特征在于，所述关键信号监控单元包括标记插入单元；

所述标记插入单元用于设置标记信号，并将所述标记信号插入所述关键信号对应的路径信息中，以及在所述标记信号的值发生变化时，记录当前时间戳信息；所述标记信号的值与所述关键信号的值实时相等；

所述电磁辐射分析单元用于提取所述标记信号，根据各标记信号的时间戳信息计算所述关键信号对应的变化时间区。

4.如权利要求1所述的防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置，其特征在于，所述装置还包括：随机数产生单元，用于产生随机数；

仿真激励生成单元，用于根据所述随机数产生单元产生的随机数生成测试激励信息，并将所述测试激励信息传输给所述仿真电路单元。

5.如权利要求1所述的防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置，其特征在于，所述关键信号包括测试密钥信息；所述装置包括：密钥产生单元，用于产生所述测试密钥信息；

密钥记录单元，用于存储所述测试密钥信息。

6.如权利要求5所述的防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置，其特征在于，所述密钥产生单元包括：源数据存储单元，用于存储加密后的源数据，所述源数据包括源密钥和层级密钥加解密算法；

源数据解密单元，用于获取所述加密后的源数据进行解密，得到解密后的源密钥和解密后的层级密钥加解密算法，并将所述解密后的源密钥送往根密钥运算单元，将所述解密后的层级密钥加解密算法存储于算法信息存储单元中；

层级信息存储单元，用于存储层级密钥信息和用户标识信息；

根密钥运算单元，用于获取所述用户标识信息和解密后的源密钥，根据所述解密后的源密钥对所述用户标识信息进行哈希运算，得到根密钥信息；

层级运算解密单元，用于获取所述层级密钥加解密算法、所述层级密钥信息和所述根密钥信息，采用所述层级密钥加解密算法应用所述根密钥信息对所述层级密钥信息进行解密，得到所述测试密钥信息。

7.如权利要求6所述的防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置，其特征在于，所述层级信息存储单元还用于存储握手请求信息和握手响应信息；

所述密钥产生单元包括：

握手解密运算电路，用于采用所述测试密钥信息对所述测试密钥信息自身进行解密，得到握手加密密钥信息；

握手加密运算电路，用于接收所述握手请求信息，并采用所述握手加密密钥信息对所述握手请求信息进行加密，得到握手加密信息；

握手信息校验电路，用于获取所述握手响应信息和所述握手加密信息，并判断两者是否匹配，若是则通过校验，将所述测试密钥信息存储于所述密钥记录单元中；否则校验不通过，不将所述测试密钥信息存储于所述密钥记录单元中。

8.一种防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：关键信号存储单元存储关键信号和关键信号对应的路径信息；

仿真电路单元接收测试激励信息进行仿真测试；所述测试激励信息包括所述关键信号；

关键信号监控单元在仿真测试时，根据所述关键信号对应的路径信息监控所述关键信号，并在所述关键信号的变化值发生变化时，记录当前时间戳信息，并将当前时间戳信息存储至变化时间存储单元中；

电磁辐射计算单元计算所述待测电路在整个仿真过程中的电磁辐射仿真数据，并将所述电磁辐射仿真数据存储于电磁辐射信息存储单元中；

电磁辐射分析单元根据所述变化时间存储单元中存储的时间戳信息计算变化时间区，以及根据所述电磁辐射信息存储单元中的电磁辐射仿真数据输出同一关键信号在所述变化时间区对应的电磁辐射信息，并分析同一关键信号在所述变化时间区对应的电磁辐射信息是否存在相关性，若是则导出相关数据；

所述关键信号包括多个变化值，所述分析同一关键信号在所述变化时间区对应的电磁辐射信息是否存在相关性包括：若所述关键信号为某一变化值时在所述变化时间区对应的电磁辐射信息与其他变化值在所述变化时间区对应的电磁辐射信息的差异大于预设误差时，则判定关键信号在为该变化值时的电磁辐射信息存在相关性；

所述变化时间区是指在同一次仿真测试中，当前关键信号的变化值发生变化的时间戳信息与上一次该关键信号的变化值发生变化的时间戳信息的差值时间段。

9.如权利要求8所述的防SEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法，其特征在于，所述关键信号包括测试密钥信息，所述测试密钥信息由密钥产生单元生成，所述密钥产生单元包括源数据存储单元、源数据解密单元、层级信息存储单元、根密钥运算单元和层级运算解密单元；

所述方法包括以下步骤：

源数据存储单元存储加密后的源数据，所述源数据包括源密钥和层级密钥加解密算法；

源数据解密单元获取加密后的源数据进行解密，得到解密后的源密钥和解密后的层级密钥加解密算法，并将所述解密后的源密钥送往根密钥运算单元，将所述解密后的层级密钥加解密算法存储于算法信息存储单元中；

层级信息存储单元存储层级密钥信息和用户标识信息；

根密钥运算单元获取所述用户标识信息和解密后的源密钥，根据所述解密后的源密钥对所述用户标识信息进行哈希运算，得到根密钥信息；

层级运算解密单元获取所述层级密钥加解密算法、所述层级密钥信息和所述根密钥信息，采用所述层级密钥加解密算法应用所述根密钥信息对所述层级密钥信息进行解密，得到所述测试密钥信息。