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专利号: 2020111798612
申请人: 深圳安捷丽新技术有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-08-12
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种防DEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置,其特征在于,所述装置包括:关键信号存储单元,用于存储关键信号和关键信号对应的路径信息;

仿真电路单元,用于接收测试激励信息进行多次仿真测试;所述测试激励信息包括所述关键信号;

关键信号监控单元,用于在每一次仿真测试时,根据所述关键信号对应的路径信息监控所述关键信号,并在所述关键信号发生变化时,记录变化时间戳信息;

差分电磁辐射分析单元,用于获取同一关键信号在本次仿真测试和上一次仿真测试时的测试结果,记本次仿真测试时所述关键信号在变化时间戳信息处的变化值对应的电磁辐射信息值为第一电磁辐射信息,上一次仿真测试时关键信号在变化时间戳信息处的变化值对应的电磁辐射信息为第二电磁辐射信息,对两次测试结果中处于相同变化时间戳信息处的变化值对应的第一电磁辐射信息和第二电磁辐射信息对应作差得到一系列电磁辐射差值,之后判断各个电磁辐射差值之间是否存在关联,若存在关联则发出提示信息。

2.如权利要求1所述的防DEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置,其特征在于,所述装置包括:电磁辐射计算单元,用于计算待测电路在每次仿真过程中的电磁辐射信息,并将所述电磁辐射信息存储于电磁辐射信息存储单元中;

所述差分电磁辐射分析单元还用于本次仿真测试时关键信号在变化时间戳信息从所述电磁辐射信息存储单元中获取第一电磁辐射信息,以及根据上一次仿真测试时关键信号在变化时间戳信息从所述电磁辐射信息存储单元中获取第二电磁辐射信息。

3.如权利要求2所述的防DEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置,其特征在于,所述装置包括:仿真波形存储单元,用于存储仿真电路单元进行仿真测试得到的仿真波形数据;

逻辑综合单元,用于对待测电路进行逻辑综合运算,得到网表信息;

ICC布局布线单元,用于根据所述网表信息计算电磁参数文件信息;

所述电磁辐射计算单元用于获取所述仿真波形数据和所述电磁参数文件信息,以计算待测电路在整个仿真过程中的电磁辐射信息。

4.如权利要求1所述的防DEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置,其特征在于,所述关键信号监控单元包括标记插入单元;

所述标记插入单元用于设置标记信号,并将所述标记信号插入所述关键信号对应的路径信息中,所述标记信号的值与所述关键信号的值实时相等,在所述标记信号的值发生变化时,记录当前时间戳信息。

5.如权利要求1所述的防DEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置,其特征在于,所述装置还包括:随机数产生单元,用于产生随机数;

仿真激励生成单元,用于根据所述随机数产生单元产生的随机数生成测试激励信息,并将所述测试激励信息传输给所述仿真电路单元。

6.如权利要求1所述的防DEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置,其特征在于,关键信号包括多个变化类型;所述变化类型根据两次仿真测试时关键信号变化时的值进行确定;

所述差分电磁辐射分析单元还用于判断关键信号在某一变化类型的电磁辐射差值与其他变化类型的电磁辐射差值的差异是否大于预设误差,若是则判定关键信号在该变化类型上存在关联。

7.如权利要求1所述的防DEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置,其特征在于,所述关键信号包括测试密钥信息;所述装置包括:密钥产生单元,用于产生所述测试密钥信息;

密钥记录单元,用于存储所述测试密钥信息;

所述差分电磁辐射分析单元还用于获取所述测试密钥信息进行两次仿真测试,并对该测试密钥信息的两次测试结果中在处于相同变化时间戳信息处的变化值对应的电磁辐射信息值对应作差,得到一系列电磁辐射差值,之后判断各个电磁辐射差值之间是否存在关联。

8.如权利要求7所述的防DEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置,其特征在于,所述密钥产生单元包括:源数据存储单元,用于存储加密后的源数据,所述源数据包括源密钥和层级密钥加解密算法;

源数据解密单元,用于获取所述加密后的源数据进行解密,得到解密后的源密钥和解密后的层级密钥加解密算法,并将所述解密后的源密钥送往根密钥运算单元,将所述解密后的层级密钥加解密算法存储于算法信息存储单元中;

层级信息存储单元,用于存储层级密钥信息和用户标识信息;

根密钥运算单元,用于获取所述用户标识信息和解密后的源密钥,根据所述解密后的源密钥对所述用户标识信息进行哈希运算,得到根密钥信息;

层级运算解密单元,用于获取所述层级密钥加解密算法、所述层级密钥信息和所述根密钥信息,采用所述层级密钥加解密算法应用所述根密钥信息对所述层级密钥信息进行解密,得到所述测试密钥信息。

9.如权利要求8所述的防DEMA攻击的待测电路安全仿真分析装置,其特征在于,所述层级信息存储单元还用于存储握手请求信息和握手响应信息;

所述密钥产生单元包括:

握手解密运算电路,用于采用所述测试密钥信息对所述测试密钥信息自身进行解密,得到握手加密密钥信息;

握手加密运算电路,用于接收所述握手请求信息,并采用所述握手加密密钥信息对所述握手请求信息进行加密,得到握手加密信息;

握手信息校验电路,用于获取所述握手响应信息和所述握手加密信息,并判断两者是否匹配,若是则通过校验,将所述测试密钥信息存储于所述密钥记录单元中。

10.一种防DEMA攻击的待测电路安全仿真分析方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:关键信号存储单元存储关键信号和关键信号对应的路径信息;

仿真电路单元接收测试激励信息进行多次仿真测试;所述测试激励信息包括所述关键信号;

关键信号监控单元在每一次仿真测试时,根据所述关键信号对应的路径信息监控所述关键信号,并在所述关键信号发生变化时,记录变化时间戳信息;

差分电磁辐射分析单元获取同一关键信号在两次仿真测试的测试结果,并对两次测试结果中处于相同变化时间戳信息处的变化值对应的电磁辐射信息值对应作差得到一系列电磁辐射差值,之后判断各个电磁辐射差值之间是否存在关联,若存在关联则发出提示信息。