1.一种深度检测系统，其特征在于，包括：

发射模组，用于发射具有参考图案的检测光束；所述检测光束能够被一个接收模组接收并用于检测对象生物特征信息，或绘制外部对象的图像，或检测外部对象空间坐标变化；

其中，所述参考图案包括多列的子参考图案，所述多列的子参考图案在列方向上交错排列。

2.根据权利要求1所述的深度检测系统，其特征在于，所述深度检测系统还包括用于采集被外部对象反射的具有检测图案的检测光束的接收模组，所述发射模组包括用于发射具有子参考图案的检测光束的发光单元和用于将所述发光单元发射的子参考图案的光束进行复制并投影为具有参考图案的检测光束的衍射光学元件，所述接收模组包括能够采集检测光束的图像传感器。

3.根据权利要求1所述的深度检测系统，其特征在于，所述发射模组包括多个发光元件组成的具有不相关二维图案的发光阵列和设置在所述发光阵列上方的衍射光学元件，所述发光阵列用于发射具有子参考图案的检测光束，所述衍射光学元件用于将所述具有子参考图案的检测光束进行复制后向空间投影具有所述参考图案的检测光束，所述子参考图案包括多个与所述发光元件一一对应的光点，所述子参考图案内部光点具有不相关性。

4.根据权利要求1所述的深度检测系统，其特征在于，所述多列的子参考图案具有奇偶交错的排列。

5.根据权利要求1所述的深度检测系统，其特征在于，所述多列的子参考图案具有逐列交错的排列，所述多列的子参考图案对应的检测长度为H*V/V3，其中H表示所述子参考图像的宽度，V表示所述子参考图案的长度，V3表示相邻列交错位移。

6.根据权利要求1所述的深度检测系统，其特征在于，所述多列的子参考图案具有随机交错的排列。

7.根据权利要求1所述的深度检测系统，其特征在于，所述多列的子参考图案具有对称交错的排列。

8.根据权利要求1所述的深度检测系统，其特征在于，所述多列的子参考图案具有奇偶交错、逐列交错、随机交错、对称交错中的多种排列。

9.根据权利要求8所述的深度检测系统，其特征在于，所述子参考图案具有矩形边缘，所述多列的子参考图案的相邻列之间的交错位移为所述子参考图案长度的1/4～1/2。

10.根据权利要求8所述的深度检测系统，其特征在于，所述参考图案包括多个相同的具有矩形边缘的子参考图案，所述多个子参考图案对应的检测长度大于或等于所述子参考图案的宽度的两倍。

11.一种电子装置，其用于外部对象的深度信息检测，其特征在于，所述电子装置包括权利要求1～9任一所述的深度检测系统。