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专利号: 2019113570576
申请人: 浙江工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-07-29
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.避免磁场干扰的VECSEL激光器芯片封装结构,由下至上依次包括基底(1)、下绝缘层(2)、上绝缘层(3);其特征在于:所述的下绝缘层(2)附着在基底(1)上,下绝缘层(2)上布置有测温线圈(4)、加热线圈(5)、VECSEL供电正电极引脚(6)、VECSEL供电负电极引脚(7);上绝缘层(3)覆盖测温线圈(4)和加热线圈(5),上绝缘层(3)中心布置有VECSEL供电负电极(8);

所述的测温线圈(4)为具有开口的圆环形,测温线圈(4)的两端分别延伸至测温线圈正极引脚(401)和测温线圈负极引脚(402);

所述的加热线圈(5)为双涡旋曲线形,两条同心的涡旋曲线交错设置,两条涡旋曲线的一端相接于涡旋中心,另一端分别延伸至加热线圈正极引脚(501)和加热线圈负极引脚(502);

所述的测温线圈(4)与加热线圈(5)同心设置,且加热线圈(5)位于测温线圈(4)内;

所述的VECSEL供电正电极引脚(6)、VECSEL供电负电极引脚(7)、测温线圈正极引脚(401)、加热线圈正极引脚(501)、加热线圈负极引脚(502)、测温线圈负极引脚(402)并排布置在下绝缘层(2)上的边缘位置;

所述的上绝缘层(3)覆盖测温线圈(4)和加热线圈(5)上,VECSEL供电负电极(8)设置在上绝缘层(3)上的中心位置,并与VECSEL供电负电极引脚(7)相接。

2.如权利要求1所述的避免磁场干扰的VECSEL激光器芯片封装结构,其特征在于:所述的测温线圈(4)的圈数为1~5圈,其断面宽度为0.1~10微米、厚度为0.1~10微米。

3.如权利要求1所述的避免磁场干扰的VECSEL激光器芯片封装结构,其特征在于:所述的加热线圈(5)断面的宽度为0.1~10微米,厚度为0.1~10微米;相互交错的两条涡旋曲线间距为0.1~10微米,单条涡旋曲线的圈数为2~100圈。

4.如权利要求1所述的避免磁场干扰的VECSEL激光器芯片封装结构,其特征在于:所述的基底(1)为硅片或玻璃片,厚度为500~1000微米。

5.如权利要求1所述的避免磁场干扰的VECSEL激光器芯片封装结构,其特征在于:所述的下绝缘层(2)和上绝缘层(3)的厚度为100~1000纳米。

6.如权利要求1所述的避免磁场干扰的VECSEL激光器芯片封装结构的加工方法,其特征在于,该方法具体步骤是:步骤(1).选取厚度为500~1000微米的硅片或玻璃片作为基底(1),基底(1)上沉积厚度为100~1000纳米的绝缘材料,作为下绝缘层(2);

步骤(2).采用金属沉积和光刻刻蚀方法,按照设计置图案在下绝缘层(2)上加工出测温线圈(4)及测温线圈正极引脚(401)和测温线圈负极引脚(402)、加热线圈(5)及加热线圈正极引脚(501)和加热线圈负极引脚(502)、VECSEL供电正电极引脚(6);

步骤(3).在测温线圈(4)和加热线圈(5)上沉积厚度为100~1000纳米的绝缘材料,作为上绝缘层(3),上绝缘层(3)覆盖测温线圈(4)和加热线圈(5),但不覆盖各个引脚;

步骤(4).采用金属沉积和光刻刻蚀方法,同时在下绝缘层(2)上加工出VECSEL供电负电极引脚(7)、在绝缘层(3)上的中心位置加工出VECSEL供电负电极(8)、以及连接VECSEL供电负电极(8)和VECSEL供电负电极引脚(7)的引线。