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专利号: 2019112321237
申请人: 河海大学常州校区
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-05-14
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种绝缘子自爆检测方法,其特征在于,包括以下步骤:采集绝缘子串图像并对所述图像进行预处理;

图像经过预处理后,提取绝缘子的主轴像素和伞裙像素,以提取到的主轴像素形成主轴L,以主轴L为界,将位于主轴L同一侧的伞裙像素设为一组;

取其中一组伞裙像素,计算相邻两个伞裙像素点之间的距离差值Disi;

依据所述距离差值Disi生成柱状图,判断绝缘子串是否有自爆缺陷。

2.根据权利要求1所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:所述获取绝缘子串图像并对所述图像进行预处理包括以下步骤:通过无人机采集绝缘子串图像;

将采集到的图像通过YOLOv3网络进行训练测试,标出绝缘子串检测框;

通过绝缘子串检测框与Grabcut分割算法对采集到的图像进行分割。

3.根据权利要求1所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:所述提取绝缘子的主轴像素和伞裙像素包括以下步骤:预处理后,选取绝缘子骨架区域内的像素点,判断像素点的八邻域内与该像素点灰度值相同的像素点的数量,若只有一个,则该像素点为绝缘子的主轴像素或伞裙像素,使用霍夫直线检测方法提取出绝缘子的主轴。

4.根据权利要求1所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:计算相邻两个像素点之间的距离差值包括以下步骤:使用冒泡排序算法将伞裙像素点按照横坐标依次排序;

根据排序后的伞裙像素点,计算相邻两个伞裙像素点之间的距离差值。

5.根据权利要求1所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:所述判断绝缘子串是否有自爆缺陷包括以下步骤:计算距离差值Disi的平均值

根据距离差值Disi和平均值 的大小关系,判断绝缘子串是否有自爆缺陷:若 则绝缘子存在自爆缺陷。

6.根据权利要求1所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:所述方法还包括对有自爆缺陷的绝缘子进行定位。

7.根据权利要求6所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:所述对有自爆缺陷的绝缘子进行定位包括以下步骤:记录有自爆缺陷的距离差值,提取所述距离差值对应的两个相邻像素点坐标;

根据所述两个相邻像素点坐标计算缺陷检测框信息,由所述缺陷检测框信息对有自爆缺陷的绝缘子进行定位。

8.根据权利要求7所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:所述缺陷检测框信息包括缺陷检测框的宽度w、高度h、延伸方向以及缺陷检测框的起点坐标。

9.根据权利要求8所述绝缘子自爆检测方法,其特征在于:所述缺陷检测框的延伸方向和起点坐标由以下步骤确定:若主轴L的斜率k>0,缺陷检测框由起点坐标开始向x坐标轴正方向延伸,缺陷检测框的起点坐标可以表示为:若主轴L的斜率k<0,缺陷检测框由起点坐标开始向y坐标轴正方向延伸,缺陷检测框起点位于(xt,yt)左下角,检测框的起点坐标可以表示为:其中,(x,y)为缺陷检测框的起始坐标,(x't,y't)与(xt,yt)关于主轴L对称,distt为像素点(xt,yt)距离主轴L的距离,Dist为像素点(xt,yt)与(xt+1,yt+1)的距离。