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专利号: 2019111766553
申请人: 三明学院
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-06-16
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种具有电流放大作用的硅光电探测器,其特征在于,包括:硅光波导区;

第一N型重掺杂硅区和第二N型重掺杂硅区;其中,所述第一N型重掺杂硅区和第二N型重掺杂硅区分别位于所述硅光波导区两侧,并与所述硅光波导区连接;

P型重掺杂硅区及第三N型重掺杂硅区;其中,所述P型重掺杂硅区设置于所述第一N型重掺杂硅区与所述第三N型重掺杂硅区之间,并与所述第一N型重掺杂硅区及所述第三N型重掺杂硅区连接;

第一金属电极,电连接至所述P型重掺杂硅区;

第二金属电极,电连接至第二N型重掺杂硅区;

第三金属电极,电连接至第三N型重掺杂硅区。

2.根据权利要求1所述的具有电流放大作用的硅光电探测器,其特征在于,所述硅光波导区为本征硅区。

3.根据权利要求1所述的具有电流放大作用的硅光电探测器,其特征在于,所述第一N型重掺杂硅区的掺杂浓度高于所述P型重掺杂硅区的掺杂浓度。

4.根据权利要求1所述的具有电流放大作用的硅光电探测器,其特征在于,相较于所述第一N型重掺杂硅区,所述P型重掺杂硅区的厚度更薄。

5.根据权利要求1所述的具有电流放大作用的硅光电探测器,其特征在于,在工作时,在第一金属电极施加的电压高于在第二金属电极施加的电压,在第三金属电极施加的电压高于在第一金属电极施加的电压,使得第三N型重掺杂硅区和P型重掺杂硅区之间PN结反偏,P型重掺杂硅区与第一N型重掺杂硅区之间PN结在有光入射的情况下正偏。