1.一种基于F‑P干涉仪腔内增强型的透射式正交偏振相位显微成像装置，其特征是：它由激光光源(1)、光衰减系统(2)、激光扩束系统(3)、F‑P干涉仪(4)、偏振分光棱镜(PBS)(5)、显微物镜一(6)和显微镜二(8)、探测相机一(7)和探测相机二(9)、计算机(10)组成，所述装置中，将待测微粒放入F‑P干涉仪，激光光源(1)发出的光经光衰减系统(2)衰减后，再由激光扩束系统(3)扩束，随后进入到F‑P干涉仪(4)，光束在F‑P干涉仪的腔内每反射一次，都有相应的透射光传至PBS偏振分光棱镜(5)中，经过多次反射后，PBS分光棱镜产生两束传播方向垂直且偏振态相互垂直的光束，分别传至显微物镜一(6)和显微镜二(8)，由探测相机一(7)和探测相机二(9)分别接收信号后，将得到的信号传输至计算机(10)进行处理，计算机(10)将得到的两组信号做出对比，消除掉单张图像所存在的误差，得到理想的图像。

2.根据权利要求1所述的显微成像测量装置，其特征是：所使用的显微物镜为高分辨率物镜。