1.一种微孔膜膜孔径的表征方法，该方法包括的步骤如下：(1)人工调制正态粒径分布的球形SiO2微球，将其配置成10wt％悬浊液；(2)微孔膜过滤此悬浊液，模拟原水实验；(3)采用激光粒度仪对过滤前后滤液中粒子分布进行测试；(4)对过滤后SiO2粒径分布数据进行拟合换算并绘图；(5)最后对滤液进行干燥处理，过滤前后粉末质量变化来辅助的表征。

2.如权利要求1所述的SiO2微球，具有相应的球形度要求，Wadell球形度≥0.92，SiO2微球必须进行抗硅酸胶体化处理及热处理，从常温经过60分钟升到500℃，在经过30分钟升到

600℃，维持600℃2小时，最后自然降温。

3.如权利要求2所述的SiO2微球粒径分布进行了人工调制，采用正态分数函数，分别取不同中位粒径和质量比例的SiO2：10μm的SiO21份、15μm的SiO24份、20μm的SiO220份、25μm的SiO260份、30μm的SiO280份、35μm的SiO260份、40μm的SiO220份、45μm的SiO24份和50μm的SiO21份。

4.如权利要求1所述的粒径分布数据进行拟合换算并绘图，具体做法：(1)横坐标X列为粒径尺寸数据，纵坐标Y列为粒径尺寸所对应的微粒所占的体积百分数；过滤前数据为Xi与Y1i，过滤后数据为Xi与Y2i；(2)过滤后数据为Xi与Y2i，以Y2i进行数据大小排序，得到其最大值Y2m其对应的X列值为Xm；(3)调用过滤前数据中Xm对应的Y1列数据值Y1m；(4)对过滤后数据Y2列进行数值缩小计算，其倍数为Y1m/Y2m，迭代计算公式为Y2i＝Y2i*Y2m/Y1m，将计算后的Y2i重新标记为Y2’；(5)将Y2’列与过滤前Y1列数据进行差值计算，获得判断值Δi＝Y2’i-Y1i；(6)将数据Δi进行大小排序，然后进行条件判断，如果Δi＜0，直接进入最后一步(9)，如果Δi＞0，则进入下一步(7)；(7)εi＝Y2’i/Y1i，εi数据列最大值ΔiM对应的Y2’M和Y1M；(8)对Y2’数据进行二次处理，Y2’缩小，其倍数为Y2’M/Y1M，迭代计算公式为Y2’i＝Y2’i*Y1M/Y2’M；(9)对Y2’数据进行加和计算即∑Y2’i，模拟过滤后滤液中SiO2含量为K＝∑Y2’i/100，微孔膜截留总量S＝1-∑Y2’i/100；(10)将过滤前数据Xi与Y1i，和拟合换算后数据Xi与Y2’i，以Xi为同一横坐标，绘制成处理模拟污水前后溶液中二氧化硅的粒径分布图。