1.一种磁光克尔信号测量方法，测量装置主要包括激光器、偏振控制器、隔离器、保偏环形器、偏振器、保偏光纤I、电光调制器、保偏光纤II、非球面镜、1/4波片、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、磁体、样品台、电源、光电探测器、信号发生器、功率分配器I、计算机、低通滤波器、锁相放大器I、倍频器、功率分配器II、锁相放大器II、入射光路及反射光路，xyz为空间直角坐标系、xy平面为水平面，zx平面与水平面垂直，隔离器具有入口和出口两个端口，且光束仅能从入口输入并从出口输出，而出口进入的光束则无法到达入口，保偏环形器具有A、B、C三个端口，且从A端口进入保偏环形器的光束仅能从B端口输出、从B端口进入保偏环形器的光束仅能从C端口输出，电光调制器具有端口I和端口II，所述样品、磁体、样品台依次位于探针正下方，磁体连接有电源，所述探针为原子力显微镜探针且为圆台形状，所述圆台轴线方向与水平面垂直，所述探针中沿圆台轴线方向具有通孔，所述探针圆台形状的上底面直径为2微米、下底面直径为1微米，所述透镜台直径十厘米，所述光电探测器的一端光纤连接保偏环形器的C端口、另一端电缆连接倍频器，所述信号发生器两端分别电缆连接功率分配器I和功率分配器II，所述功率分配器II电缆连接锁相放大器II，所述锁相放大器II、锁相放大器I、计算机依次电缆连接，所述功率分配器I电缆连接电光调制器，所述功率分配器I电缆连接锁相放大器I，所述锁相放大器I、低通滤波器、倍频器、锁相放大器II依次电缆连接，所述保偏光纤I的一端连接偏振器、另一端连接电光调制器的端口I，保偏光纤II连接电光调制器的端口II，所述保偏光纤I和保偏光纤II均具有慢轴和快轴，保偏光纤I的慢轴与电光调制器的横磁模成45度角，保偏光纤II的慢轴与电光调制器的横磁模方向平行，1/4波片的慢轴与保偏光纤II的慢轴成45度角，所述激光器、偏振控制器、隔离器、保偏环形器、偏振器依次光纤连接，所述激光器发射的激光束依次经偏振控制器、隔离器的入口、隔离器的出口、保偏环形器的A端口、保偏环形器的B端口、偏振器、保偏光纤I、电光调制器、保偏光纤II、非球面镜、1/4波片、透镜台、原子力显微镜、探针，从而形成入射光路，从样品反射的光依次经探针、原子力显微镜、透镜台、1/4波片、非球面镜、保偏光纤II、电光调制器、保偏光纤I、偏振器、保偏环形器的B端口、保偏环形器的C端口、光电探测器，从而形成反射光路，所述探针的通孔的开口直径为500纳米，所述保偏光纤I长度为1.5米，保偏光纤II长度为9.5米，其特征是，所述一种磁光克尔信号测量方法的步骤如下：一.激光器发射中心波长800纳米的光，且光束中波长差小于10纳米，激光功率0.2毫瓦，光束的宽度大于2纳米且小于10纳米；

二.调整偏振控制器，使得偏振控制器与光源发出的部分偏振光准直，使得光的最大功率偏振方向与隔离器以及保偏环形器的慢轴耦合；

三.光束依次经过隔离器、保偏环形器的A端口、保偏环形器的B端口、偏振器及保偏光纤I后到达电光调制器端口I；

四.由于保偏光纤I的慢轴与电光调制器的横磁模成45度角，当光束到达电光调制器的端口I时，光的横磁模和横电模基本相等，在电光调制器中光束被分成两个正交偏振的分量，电光调制器中的横磁模和横电模分别定义为光I和光II，光I和光II分别与保偏光纤II的慢轴和快轴耦合；

五.光I和光II从保偏光纤II出来后经过非球面镜到达1/4波片，并被转变为两束偏振方向相反的圆偏振光；

六.当光I和光II在样品表面发生反射时，会产生不同的相位，相位差的一半为所需测量的克尔角，光I和光II在样品表面发生反射后穿过1/4波片时重新转变为线偏光，光I和光II的正交偏振分量的偏振互换，结果是，光I和光II分别耦合进入的保偏光纤II的快轴和慢轴；

七.光I和光II到达电光调制器的端口II，并在电光调制器中受到相位调制，当光I和光II重新耦合进入保偏光纤的慢轴，会发生干涉，光纤的快轴中剩余的光功率被偏振器过滤；

八.光束返回保偏环形器并偏转进入光电探测器；

九.分别采用锁相放大器I和锁相放大器II测量一阶谐波和二阶谐波，锁相放大器I的输入端之前连接有低通滤波器以过滤二阶谐波，锁相放大器I和锁相放大器II的积分时间均设置为一秒；

十.根据锁相放大器I得到的光强的一阶分量Iω和锁相放大器II得到的光强的二阶分量I2ω，以及光I和光II的相位差φm，由公式 计算得到克尔角，J1和J2分

别为一阶和二阶贝塞尔函数。