1.一种DDR器件读写信号的测试方法，其特征在于，包括：将特定数据写入DDR器件；

同时将示波器的逻辑触发数据设置为相对应的所述特定数据；

控制所述示波器对写入所述特定数据的所述DDR器件进行数据采集，对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果。

2.根据权利要求1所述的DDR器件读写信号的测试方法，其特征在于，控制所述示波器对写入所述特定数据的所述DDR器件进行数据采集，对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的测量结果之后还包括：将所述示波器的逻辑触发数据设置为相对应的所述特定数据，并对写入所述特定数据后的所述DDR器件进行读操作；控制所述示波器对所述读操作之后读取的所述数据进行测量，获取所述示波器对所述数据的测量的第二测量结果。

3.根据权利要求1所述的DDR器件读写信号的测试方法，其特征在于，控制所述示波器对写入所述特定数据的所述DDR器件进行数据采集，对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果具体包括：控制所述示波器通过所述逻辑触发，采集写入所述特定数据的所述DDR器件的所述数据；

控制所述示波器对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果。

4.一种DDR器件读写信号的测试装置，其特征在于，包括：写入单元，用于将特定数据写入DDR器件；

设置单元，用于触发所述写入单元的同时，将示波器的逻辑触发数据设置为相对应的所述特定数据；

写入数据测试单元，用于控制所述示波器对写入所述特定数据的所述DDR器件进行数据采集，对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果。

5.根据权利要求4所述的DDR器件读写信号的测试装置，其特征在于，所述的DDR器件读写信号的测试装置还包括：读操作单元，用于将所述示波器的逻辑触发数据设置为相对应的所述特定数据，并对写入所述特定数据后的所述DDR器件进行读操作；

读取数据测试单元，用于控制所述示波器对所述读操作之后读取的所述数据进行测量，获取所述示波器对所述数据的测量的第二测量结果。

6.根据权利要求4或5所述的DDR器件读写信号的测试装置，其特征在于，设置单元具体包括：第一设置子单元，用于将示波器的逻辑触发设置为相对应的所述特定数据；

第二设置子单元，用于对所述示波器进行所述预置测试参数的设置。

7.根据权利要求4所述的DDR器件读写信号的测试装置，其特征在于，写入数据测试单元具体包括：第一控制子单元，用于控制所述示波器通过所述逻辑触发，采集写入所述特定数据的所述DDR器件的所述数据；

第二控制子单元，用于控制所述示波器对采集的数据按照预置测试参数进行测量，并获取所述示波器读取的对采集的所述数据进行测量之后的第一测量结果。

8.根据权利要求7所述的DDR器件读写信号的测试装置，其特征在于，第二控制子单元具体包括：控制模块，用于控制所述示波器采集的数据按照预置测试参数进行测量；

获取模块，用于获获取所述示波器基于所述预置测试参数进行进行测量之后的第一测量结果。