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专利号: 2018102201395
申请人: 浙江华领科技有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-05-14
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种基于单线激光扫描装置的激光测距方法,其特征在于,包括以下步骤;

获取单线激光扫描装置的内部设定参数,所述内部设定参数包括测距基准参数和校验参数;

在出厂后扫描测距时,实时获取各扫描位置的回复路径的时间信息,对所述时间信息进行均值处理,并根据处理结果更新所述测距基准参数,得到测距基准均值;

利用校准公式根据所述测距基准均值和校验参数对扫描目标的原始时间数据进行校准处理,得到单线激光扫描装置测距的实际距离数据。

2.如权利要求1所述的基于单线激光扫描装置的激光测距方法,其特征在于,还包括以下步骤;

在获取单线激光扫描装置的内部设定参数之前,预先设置内部设定参数,并将所述内部设定参数保存至存储器中。

3.如权利要求2所述的基于单线激光扫描装置的激光测距方法,其特征在于,所述预先设置内部设定参数,并将所述内部设定参数保存至存储器中,包括以下步骤;

在出厂前进行标定测距时,获取各扫描位置的回复路径的时间信息,对所述时间信息进行均值处理,得到测距基准参数;

获取各距离位置标定目标的标定时间数据,根据所述标定时间数据和测距基准参数进行标定处理,得到校验参数,并将所述测距基准参数和校验参数保存至存储器中。

4.如权利要求1所述的基于单线激光扫描装置的激光测距方法,其特征在于,还包括以下步骤;

在利用校准公式根据所述测距基准均值和校验参数对扫描目标的原始时间数据进行校准处理之前,调取存储在存储器中的计算实际距离数据的校准公式;

所述校准公式为D=(To–Tb1avg)V/2+Cavg;

式中,D为实际距离数据,To为原始时间数据,Tb1avg为内部设定参数中的测距基准参数,V为光速,Cavg为内部设定参数中的校验参数。

5.一种基于单线激光扫描装置的激光测距系统,其特征在于,包括获取模块、实时更新模块以及校准处理模块;

所述获取模块,用于获取单线激光扫描装置的内部设定参数,所述内部设定参数包括测距基准参数和校验参数;

所述实时更新模块,用于在出厂后扫描测距时,实时获取各扫描位置的回复路径的时间信息,对所述时间信息进行均值处理,并根据处理结果更新所述测距基准参数,得到测距基准均值;

所述校准处理模块,用于利用校准公式根据所述测距基准均值和校验参数对扫描目标的原始时间数据进行校准处理,得到单线激光扫描装置测距的实际距离数据。

6.如权利要求5所述的基于单线激光扫描装置的激光测距系统,其特征在于,还包括预设模块;

所述预设模块,用于在获取单线激光扫描装置的内部设定参数之前,预先设置内部设定参数,并将所述内部设定参数保存至存储器中。

7.如权利要求6所述的基于单线激光扫描装置的激光测距系统,其特征在于,所述预设模块包括设定单元和校验保存单元;

所述设定单元,用于在出厂前进行标定测距时,获取各扫描位置的回复路径的时间信息,对所述时间信息进行均值处理,得到测距基准参数;

所述校验保存单元,用于获取各距离位置标定目标的标定时间数据,根据所述标定时间数据和测距基准参数进行标定处理,得到校验参数,并将所述测距基准参数和校验参数保存至存储器中。

8.如权利要求5所述的基于单线激光扫描装置的激光测距系统,其特征在于,还包括调取模块;

所述调取模块,用于在利用校准公式根据所述测距基准均值和校验参数对扫描目标的原始时间数据进行校准处理之前,调取存储在存储器中的计算实际距离数据的校准公式;

所述校准公式为D=(To–Tb1avg)V/2+Cavg;

式中,D为实际距离数据,To为原始时间数据,Tb1avg为内部设定参数中的测距基准参数,V为光速,Cavg为内部设定参数中的校验参数。