1.芯片检测装置，其特征在于，包括：

传送机构，所述传送机构用于运送测试芯片，

清洗换液机构，所述清洗换液机构用于朝向所述传送机构上的测试芯片加注或吸取测试液；

测试反应装置，所述传送机构穿过所述测试反应装置；

所述传送机构包括多个传送带组件和转移组件，所述转移组件连接在两个所述传送带组件之间，所述转移组件包括驱动电机、主动轮、从动轮、同步带、滑块、主绝对位置编码器和从绝对位置编码器；

所述主动轮设置在所述驱动电机的输出轴上，所述主绝对位置编码器设置在所述驱动电机上，所述同步带连接在所述主动轮和所述从动轮之间，所述滑块设置在所述同步带上，所述从绝对位置编码器与所述从动轮连接；

所述主动轮的直径与所述从动轮的直径不相同；

所述清洗换液机构包括注液组件和吸液组件；

所述注液组件包括第一导管，所述第一导管设置在所述传送机构的上方，所述注液组件用于通过所述第一导管朝向所述传送机构上的测试芯片加注测试液；

所述吸液组件包括第二导管，所述第二导管设置在所述传送机构的上方，所述吸液组件用于通过所述第二导管朝向所述传送机构上的测试芯片吸取测试液；

所述转移组件包括壳体，所述壳体设置有滑轨，所述滑块设置在滑轨中并可沿所述滑轨移动；

所述壳体形成有容纳腔，所述滑轨呈通槽地设置在所述容纳腔的第一侧壁上，所述滑块穿过所述滑轨；

所述主动轮和所述从动轮均设置在所述容纳腔内，所述驱动电机和所述从绝对位置编码器设置在所述容纳腔的第二侧壁上。

2.根据权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于：多个所述传送带组件呈并排设置，所述传送带组件上设置有芯片放置位，所述传送带组件穿过所述测试反应装置。

3.根据权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于：所述第一导管的出口用于朝向所述测试芯片的侧部，所述第二导管的入口用于朝向所述测试芯片的中部；

所述第一导管呈倾斜或平行于水平面地设置。

4.根据权利要求1所述的芯片检测装置，其特征在于：所述清洗换液机构包括吹气组件，所述吹气组件包括滑轨、滑块、电机单元、气体通道和气泵，所述气泵和所述气体通道连接，所述气体通道设置在所述滑块上，所述电机单元驱动所述滑块沿所述滑轨滑动，所述气体通道的出气口用于向所述传送机构上的测试芯片吹气。

5.根据权利要求3或4所述的芯片检测装置，其特征在于：所述测试反应装置包括盖体、恒温板和加热装置，所述盖体盖合在所述恒温板的上方，所述恒温板在朝向所述盖体的端面上设置有液体槽，所述盖体和所述液体槽之间形成反应腔室，所述传送机构穿过所述反应腔室，所述加热装置用于对所述反应腔室加热。