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专利号: 2016103903767
申请人: 武汉工程大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-11-19
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种利用MPCVD制备碳化钼晶体时钼的引入方法,其特征在于包括如下步骤:第一步,首先将硅片进行超声波清洗,然后将清洗后的硅片放入基片台上,基片台位于腔体内,对腔体抽真空至真空度为0.1-10Pa;

第二步,向腔体通入氢气和甲烷,调节气体流量、微波功率和气压,使氢气和甲烷气体吸收微波能量产生等离子体;

第三步,打开脉冲电源,调节腔体中钼电极和基片台之间的电压,使钼电极和基片台之间产生弧光放电,调节脉冲的时间控制弧光的产生时间;在硅片上引入了钼;

第四步,待反应结束后,关闭脉冲电源,待腔体内腔室冷却后,取出样品,得到碳化钼晶体。

2.根据权利要求1所述的一种利用MPCVD制备碳化钼晶体时钼的引入方法,其特征在于:所述第一步中超声波清洗为用丙酮或乙醇溶剂进行超声波清洗,超声的功率为50W、频率为40KHz。

3.根据权利要求1所述的一种利用MPCVD制备碳化钼晶体时钼的引入方法,其特征在于:所述第二步中,氢气和甲烷的体积配比为30:1-200:1。

4.根据权利要求1所述的一种利用MPCVD制备碳化钼晶体时钼的引入方法,其特征在于:所述第二步中微波等离子体产生的工艺参数如下:氢气流量为:100-400sccm,甲烷流量为:0.5-10sccm,微波功率为800-1200W,工作气压为10-25kPa。

5.根据权利要求1所述的一种利用MPCVD制备碳化钼晶体时钼的引入方法,其特征在于:所述第三步中产生弧光放电的工艺参数如下:钼电极与基片台之间的电压为:300-

600V,产生电弧的时间为0.1-10s,不产生电弧的时间为1-10s,总时间是6h。