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专利号: 2015105015370
申请人: 江苏科技大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2024-11-12
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种蛋壳材料参数无损测试装置的测试方法,其特征在于:所述蛋壳包含大端和小端,所述蛋壳的小端上安装有上平板,大端的下方安装有下平板,在蛋壳的赤道上沿着经向与纬向交替均匀设有至少两个应变片,每个应变片分别与信号采集系统连接;

该方法包括以下步骤:

(1)通过投影法或3D扫描仪获取蛋壳轮廓线;

(2)获取蛋壳轮廓线赤道处的第一曲率半径R1和第二曲率半径R2,并测量蛋壳轮廓线赤道处的平均厚度t;

(3)在蛋壳赤道上沿着经向与纬向交替均匀布置至少两个应变片,并将每个应变片分别连接信号采集系统;

(4)保持蛋壳小端在上,沿长轴方向对蛋壳施加集中力F,Fmax的值应小于蛋壳破坏力的

1/3,并获取集中力F、经向应变、纬向应变关于时间的变化曲线;

(5)通过变化曲线获取最大集中力Fmax及经向应变 纬向应变εθ;

(6)计算经向应力 纬向应力σθ,平均纬向应变 和平均经向应变 其中:n为纬向应变片的个数,m为经向应

变片的个数,ε2i为纬向应变片的读数,ε3j为经向应变片的读数;

(7)根据以下公式: 求出泊松比μ和弹性模量E,即:

2.根据权利要求1所述的蛋壳材料参数无损测试装置的测试方法,其特征在于:所述步骤(2)中第一曲率半径R1 和第二曲率半径R2 通过AUTOCAD做图测蛋壳轮廓线获得。

3.根据权利要求2所述的蛋壳材料参数无损测试装置的测试方法,其特征在于:所述步骤(2)中蛋壳轮廓线赤道处的平均厚度采用下列方法测得:在蛋壳轮廓线赤道处通过无损测厚仪测量至少3个均匀分布点的厚度,然后取厚度的平均值。