1.一种用于测定粉体电阻率的装置，该装置包括两个导电体，其特征在于，该装置还包括绝缘料仓，绝缘料仓的两端开口，在使用时，所述两个导电体各自的至少一部分分别通过绝缘料仓两端的开口插入到绝缘料仓的腔体中，两个导电体的插入到绝缘料仓腔体中的部分的至少端部与绝缘料仓的内壁无缝接触，并且至少一个导电体的插入到绝缘料仓腔体中的部分能够在绝缘料仓的腔体中滑动，该装置还包括压力施加单元，用于对导电体施加压力。

2.根据权利要求1所述的装置，其中，所述绝缘料仓的腔体的形状为圆形或多边形的柱体。

3.根据权利要求1所述的装置，其中，两个导电体的长度之和大于绝缘料仓腔体的长度。

4.根据权利要求1所述的装置，其中，一个或两个导电体上标注有刻度。

5.根据权利要求1所述的装置，其中，该装置还包括绝缘底座，两个导电体中的任意一个垂直地安装在该绝缘底座上。

6.一种用于测定粉体的体积电阻率的方法，该方法包括测定粉体的电阻，利用测得的电阻值计算粉体的体积电阻率，其特征在于，测定粉体的电阻的方法使用一种用于测定粉体的体积电阻率的装置，该装置包括绝缘料仓和两个导电体，绝缘料仓的两端开口；将一个导电体的至少一部分通过绝缘料仓一端的开口插入到绝缘料仓的腔体中，通过绝缘料仓另一端的开口将粉体填充到绝缘料仓的腔体中，然后将另一个导电体的至少一部分通过绝缘料仓另一端的开口插入到绝缘料仓的腔体中，两个导电体与填充在绝缘料仓腔体中的粉体接触，两个导电体的插入到绝缘料仓腔体中的部分的至少端部与绝缘料仓的内壁无缝接触，并且至少一个导电体的插入到绝缘料仓腔体中的部分能够在绝缘料仓的腔体中滑动；

对导电体施加压力，使粉体的压实密度为0.5-5.0克/立方厘米，使用电阻计测定填充到绝缘料仓腔体中的粉体的电阻。

7.根据权利要求6所述的方法，其中，所述用于测定粉体的体积电阻率的装置还包括绝缘底座，两个导电体中的任意一个垂直地安装在该绝缘底座上，垂直地安装在该绝缘底座上的导电体通过绝缘料仓的一端的开口垂直插入到绝缘料仓的腔体中，将粉体填充到绝缘料仓的腔体中，将另外一个导电体通过绝缘料仓的另一端的开口垂直插入到绝缘料仓的腔体中。

8.根据权利要求6所述的方法，其中，一个或两个导电体上标注有刻度。