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专利号: 200580026864X
申请人: LG伊诺特有限公司
专利类型:其他
专利状态:已下证
更新日期:2024-12-09
缴费截止日期: 暂无
联系人

摘要:

权利要求书:

1.一种制造氮化物半导体发光器件的方法,所述方法包括:提供具有GaN层的氮化物半导体发光器件;

使所述氮化物半导体发光器件与氢分离金属接触;

使氮化物半导体发光器件和氢分离金属振动;和从氮化物半导体发光器件的GaN层除去氢并且从氮化物半导体发 光器件分离氢分离金属;

其中加工温度为400℃或更低。

2.根据权利要求1的方法,还包括在振动步骤后,供应氢气以加速氢 结合反应的步骤。

3.根据权利要求1的方法,其中所述氢分离金属是选自元素周期表中 II族~V族的金属。

4.根据权利要求1的方法,其中所述氢分离金属是包含元素周期表中 II族~V族的第一元素和元素周期表中VI族~VIII族的第二元素的 金属合金。

5.根据权利要求1的方法,其中除去氢使得GaN层中的空穴密度增 高。

6.根据权利要求1的方法,其中所述振动步骤通过超声波振动仪实施。

7.根据权利要求1的方法,其中所述振动步骤是活化GaN层中氢的 步骤。

8.根据权利要求1的方法,其中所述氮化物半导体发光器件被所述氢 分离金属包围并且与所述氢分离金属接触。

9.一种氮化物半导体发光器件,包含:衬底;

在衬底上形成的第一GaN层;

在第一GaN层上形成的有源层;

在有源层上形成的第二GaN层,其中的氢在400℃或更低的温度 下通过与氢分离金属接触而除去。

10.一种氮化物半导体发光器件,包含:衬底;

在所述衬底上形成的第一GaN层;

在所述第一GaN层上形成的有源层;

在所述有源层上形成的第二GaN层,其中在所述第二GaN层中 的氢通过振动活化并且与氢分离金属接触而除去。