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专利号: 2025217348932
申请人: 湖北天竞成工程检测科技有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
更新日期:2026-08-19
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种自校正的超声波测厚仪,其特征在于,包括超声波测厚仪本体(1),所述超声波测厚仪本体(1)的一侧设置有探头(4),所述探头(4)的外表面设置有防护壳(5),所述防护壳(5)包括上壳体(51)和下壳体(52),所述上壳体(51)和下壳体(52)通过磁吸组件进行连接,所述上壳体(51)的上侧还设置有厚度标块(512),所述探头(4)的上端抵触于所述厚度标块(512)的下表面。

2.根据权利要求1所述的一种自校正的超声波测厚仪,其特征在于,所述上壳体(51)的上表面固定连接有支撑板(511),所述厚度标块(512)固定连接于所述支撑板(511)的上表面,且所述厚度标块(512)为弧形。

3.根据权利要求2所述的一种自校正的超声波测厚仪,其特征在于,所述支撑板(511)的中部内表贯穿开设有通孔(513),所述探头(4)置于通孔(513)的内部。

4.根据权利要求1所述的一种自校正的超声波测厚仪,其特征在于,所述磁吸组件包括开设于所述上壳体(51)下表面的若干第一槽口(515),若干所述第一槽口(515)的内表面均固定连接有第一磁铁(514)。

5.根据权利要求1所述的一种自校正的超声波测厚仪,其特征在于,所述磁吸组件还包括开设于所述下壳体(52)上表面的若干第二槽口(522),若干所述第二槽口(522)的内部均固定连接有第二磁铁(521)。

6.根据权利要求1所述的一种自校正的超声波测厚仪,其特征在于,所述超声波测厚仪本体(1)的上侧外表面开设有插孔(2),所述插孔(2)通过插设的连接线(3)与探头(4)电性连接。

7.根据权利要求1所述的一种自校正的超声波测厚仪,其特征在于,所述探头(4)置于下壳体(52)的内表面,且所述下壳体(52)的下表面开设有连接孔(523)。

8.根据权利要求1所述的一种自校正的超声波测厚仪,其特征在于,所述上壳体(51)和下壳体(52)的内表面均设置有防护垫(6),所述防护垫(6)的材质为橡胶材质。