1.一种在光纤组件下落过程中进行质检的批量检测装置，其特征在于，包括：

分件盘（1），其开设有多个轮廓匹配耦合器俯视轮廓的对料口；

十字导轨（2），其数量与对料口的数量相同且位于对料口的下方；

视觉模块（3），其位于十字导轨（2）的侧面且用于采集从十字导轨（2）中通过耦合器的端视图像；

顶撑（4），其用于停滞十字导轨（2）中的耦合器；

电参数排查机构（5），其用于对十字导轨（2）中通过的耦合器进行通电排查；

综合控制器（6），其电连接于视觉模块（3）和电参数排查机构（5）；

其中，所述十字导轨（2）竖向设置且各个侧面均有沿高度方向开设的开口，所述综合控制器（6）配置为：

比对实时图像和预设的标准图像，并根据图像比对结果输出耦合器质检结果一；

比对实时通电反馈和预设的标准电参数，并根据电参数比对结果输出耦合器质检结果二。

2.根据权利要求1所述的在光纤组件下落过程中进行质检的批量检测装置，其特征在于：所述顶撑（4）包括针板（41）、顶针（42）和电推缸（43），所述顶针（42）竖向设置于针板（41）且伸入十字导轨（2）内，一个所述十字导轨（2）内设置有两个相互平齐的顶针（42），所述顶针（42）伸入十字导轨（2）中供耦合器圆筒通过的槽道内，同一所述十字导轨（2）内的两个顶针（42）为一对且进行电路结构串联，所述电推缸（43）竖向设置且伸缩杆端固定于针板（41）；所述综合控制器（6）电连接于顶针（42）且配置为：根据各对顶针（42）的通电反馈判定耦合器姿态是否正确。

3.根据权利要求2所述的在光纤组件下落过程中进行质检的批量检测装置，其特征在于：所述针板（41）上设置有气柱（71），所述气柱（71）的数量与顶针（42）的数量相同，所述顶针（42）的下端竖向滑移连接于气柱（71）；所述气柱（71）通过气管连通有抽送气机构（72）且气管上安装有电磁阀（73），所述电磁阀（73）电连接于综合控制器（6），所述综合控制器（6）配置为：若耦合器的姿态错误，则控制对应的电磁阀（73）开启。

4.根据权利要求3所述的在光纤组件下落过程中进行质检的批量检测装置，其特征在于：所述抽送气机构（72）包括风机（721）、三端口管道（722）、阀门A和阀门B，所述三端口管道（722）的数量与气柱（71）的数量相同，所述三端口管道（722）的一个端口连通风机（721）的进风端，一个端口连通于风机（721）的出风端，另一个端口用于连通气柱（71）的气管；所述阀门A安装于三端口管道（722）连通风机（721）的进风端的端口一路，所述阀门B安装于三端口管道（722）连通风机（721）的出风端的端口一路，所述阀门A和阀门B分别电连接于综合控制器（6）。

5.根据权利要求1所述的在光纤组件下落过程中进行质检的批量检测装置，其特征在于：所述电参数排查机构（5）包括竖板（51）、表笔拓展柱（52）、限位套（53）和横推机构（54），所述表笔拓展柱（52）横向垂直固定于竖板（51）且数量至少与十字导轨（2）的数量相同，两个所述竖板（51）为一组且分别位于十字导轨（2）对称的两侧，所述限位套（53）固定于在竖板（51）上且套住表笔拓展柱（52），所述表笔拓展柱（52）伸出限位套（53）后用于接触耦合器的插针，所述竖板（51）固定于横推机构（54）的推动部，所述横推机构（54）电连接于综合控制器（6）。

6.根据权利要求5所述的在光纤组件下落过程中进行质检的批量检测装置，其特征在于：所述表笔拓展柱（52）朝向十字导轨（2）的一端开设有插针孔。

7.根据权利要求4所述的在光纤组件下落过程中进行质检的批量检测装置，其特征在于：还所述综合控制器（6）还电连接有吹飞机构，所述吹飞机构包括气嘴（9）和阀门C，所述气嘴（9）出气端横向朝向十字导轨（2）的下端口下方，所述气嘴（9）通过管道连通风机（721）的出风口，所述阀门C安装于气嘴（9）的管道上且电连接于综合控制器（6）。

8.一种在光纤组件下落过程中进行质检的批量检测方法，其特征在于：应用如权利要求1‑7任一所述的在光纤组件下落过程中进行质检的批量检测装置对耦合器进行质量检测。