1.一种半导体测试夹具，其特征在于：包括：支架(1)，所述支架(1)上转动连接有载台(2)，所述载台(2)上排列有多组对半导体水平方向夹持的侧向夹持机构(3)，每组所述侧向夹持机构(3)上均弹性连接有可对半导体竖向夹持的竖向夹持机构(4)，所述载台(2)置于半导体夹持侧为透明结构。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试夹具，其特征在于：所述支架(1)包括底板和对称固定在底板上的支撑杆(101)及螺纹连接在支撑杆(101)上的锁紧螺杆(102)。

3.根据权利要求2所述的一种半导体测试夹具，其特征在于：所述载台(2)包括支撑板(201)和固定在支撑板(201)一端的挡板(202)，所述支撑板(201)的两端对称固定安装有轴杆(2011)，所述轴杆(2011)与支撑杆(101)转动连接，所述支撑板(201)靠近挡板(202)的一侧固定安装有透明的钢化玻璃(5)。

4.根据权利要求3所述的一种半导体测试夹具，其特征在于：所述侧向夹持机构(3)包括螺纹连接在支撑板(201)且远离挡板(202)一侧的调节螺杆(303)和多根可伸缩的伸缩杆(301)及固定在伸缩杆(301)一端的弹簧(302)，多根所述伸缩杆(301)的一端通过连接板固定，连接板与调节螺杆(303)转动连接，所述伸缩杆(301)包括矩形且与支撑板(201)相抵的套管(3011)。

5.根据权利要求4所述的一种半导体测试夹具，其特征在于：所述竖向夹持机构(4)包括固定在套管(3011)上的L板(401)和滑插在L板(401)上的压板(402)及固定在压板(402)与L板(401)之间的拉簧(403)，所述L板(401)远离弹簧(302)的一侧为坡面结构。