1.一种磁注入攻击信号检测装置，包括磁收集电路、差分放大电路、带通滤波器、选择开关部分、功率放大器、主控部分、晶振电路、JLINK接口部分、指示灯部分、复位电路、BOOT选择部分、滤波电路和稳压电路，其特征在于磁收集电路的检测信号输出端口依次通过差分放大电路、带通滤波器、选择开关部分分别与主控部分的检测信号输入端口、功率放大器的信号输入端口相连，主控部分的信号传输端口分别与晶振电路、JLINK接口部分、复位电路、BOOT选择部分相连，稳压电路的电能输出端口分别与磁收集电路的电源端口、差分放大电路的电源端口、带通滤波器的电源端口、功率放大器的电源端口、主控部分的电源端口、JLINK接口部分的电源端口、指示灯部分的电源端口、复位电路的电源端口、BOOT选择部分的电源端口、滤波电路的电源端口相连。

2.根据权利要求1所述一种磁注入攻击信号检测装置，其特征在于所述磁收集电路采用TMR2905芯片U5，U5的4、5脚分别与‑SIGNAL_IN、+SIGNAL_IN对应相连。

3.根据权利要求1所述一种磁注入攻击信号检测装置，其特征在于所述差分放大电路采用AD8420ARMZ芯片U1，U1的2、3、8脚分别与+SIGNAL_IN、‑SIGNAL_IN、VOUT1对应相连；U1的7脚分别与电阻R1一端、电阻R2一端相连，R1另一端分别与U1的6脚、地相连，R2另一端接VOUT1。

4.根据权利要求1所述一种磁注入攻击信号检测装置，其特征在于所述带通滤波器采用LM358ADT芯片U2，U2的1脚分别与电阻R4一端、电容C5一端、电容C4一端相连，R4另一端分别与电阻R3一端、U2的2脚相连，R3另一端接地；C5另一端分别与电阻R9一端、电阻R10一端相连，R9另一端接VOUT1，R10另一端接U2的3脚；C4另一端分别与电阻R8一端、电容C3一端相连，R8另一端分别与SW_1、U2的7脚、电阻R7一端相连，R7另一端分别与U2的6脚、电阻R6一端相连，R6另一端接地；C3另一端接U2的5脚。

5.根据权利要求1所述一种磁注入攻击信号检测装置，其特征在于所述选择开关部分采用单刀双掷开关SW2，SW2的进线端与SW_1相连，SW2的第一出线端接PA2，SW2的第二出线端接POWER_AMPLIFIER。

6.根据权利要求1所述一种磁注入攻击信号检测装置，其特征在于所述功率放大器采用TPA3116D2DADR模块U8，U8的4脚通过电容C22接POWER_AMPLIFIER，U8的6脚通过电阻R22分别与电阻R23一端、U8的8脚相连，R23另一端接地，U8的12脚通过电阻R24接地；U8的21脚通过电感L2接扬声器SPK1的负极，SPK1的正极通过电感L1接U8的29脚，U8的20脚通过电容C31与U8的21脚相连，U8的30脚通过电容C28与U8的29脚相连；SPK1的正极依次通过电阻R25、电容C38、电容C39、电阻R26与SPK1的负极相连，C38与C39的连接线接地。

7.根据权利要求1所述一种磁注入攻击信号检测装置，其特征在于所述主控部分采用STM32F103C8T6芯片U4，U4的2～7、10～22、25～33、37～46脚分别与PC13～PC15、OSC_IN、OSC_OUT、NRST、PA0～PA7、PB0、PB1、BOOT1、PB10～PB15、PA8～PA12、SWDIO、SWCLK、PA15、PB3～PB7、BOOT0、PB8、PB9对应相连。

8.根据权利要求1所述一种磁注入攻击信号检测装置，其特征在于所述晶振电路采用

32.768kHz晶振X1和8MHz晶振X2，X1一端接PC14，X1另一端接PC15；X2一端接OSC_IN，X2另一端接OSC_OUT。

9.根据权利要求1所述一种磁注入攻击信号检测装置，其特征在于所述指示灯部分包括发光二极管LED1～LED3，LED3阴极接PC14，LED3阳极通过电阻R13接VCC_3V3；LED2阴极接PC13，LED2阳极通过电阻R12接VCC_3V3；LED1阴极接地，LED1阳极通过电阻R11接VCC_3V3。

10.根据权利要求1所述一种磁注入攻击信号检测装置，其特征在于所述稳压电路采用NCP1117ST50T3G模块U6，U6的3脚接+5V，U6的2脚接VCC_3V3。