1.一种集成电路芯片抗压测试装置，包括测试箱(1)和检测仪(2)；其特征在于：所述测试箱(1)带开口的一侧开设有嵌合槽(11)，所述测试箱(1)靠近嵌合槽(11)的一侧活动设置盖板(3)，所述盖板(3)的一侧固定连接有操作平台(14)，所述操作平台(14)的顶部设置有检测组件，所述检测组件与检测仪(2)电性连接，所述检测组件用于对芯片进行检测，所述测试箱(1)的底部固定连接有底座(4)，所述底座(4)与盖板(3)之间设置有滑动组件，所述滑动组件用于控制盖板(3)滑动以实现开和关，所述测试箱(1)远离嵌合槽(11)的一侧设置有压力发生组件，所述压力发生组件用于对测试箱(1)内产生不同的压力环境，所述测试箱(1)的内部安装有压力传感器。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片抗压测试装置，其特征在于：所述压力发生组件包括固定连接在测试箱(1)外侧的切换缸(51)，所述切换缸(51)内壁的顶部与底部之间转动连接有阀板(58)，所述阀板(58)将切换缸(51)的内部空间分隔为两个腔室，所述切换缸(51)的底部固定安装有切换电机(57)，所述切换电机(57)的输出端延伸至切换缸(51)的内部且与阀板(58)中心轴的底部固定连接，所述切换缸(51)的底部对称设置有第一气管(55)和第二气管(56)，所述第一气管(55)与外部环境相通，所述第二气管(56)与测试箱(1)的内部相通，所述测试箱(1)靠近切换缸(51)的一侧固定连接有气泵(52)，所述切换缸(51)的顶部对称设置有进气管(53)与排气管(54)，所述气泵(52)的进气端与排气管(54)相连通，所述气泵(52)的出气端与进气管(53)相连通。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路芯片抗压测试装置，其特征在于：所述滑动组件包括滑轨(61)，所述滑轨(61)固定连接在测试箱(1)的底部，所述滑轨(61)的外侧滑动连接有滑块(62)，所述底座(4)的一侧滑动连接有滑动杆(63)，所述滑动杆(63)的一端延伸至底座(4)的内部且与滑块(62)固定连接，所述滑动杆(63)远离滑块(62)的一端与盖板(3)固定连接，所述盖板(3)与底座(4)之间设置有锁定组件，所述锁定组件用于使盖板(3)能够快速锁定和快速解锁。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路芯片抗压测试装置，其特征在于：所述锁定组件包括定位架(72)，所述定位架(72)固定连接在盖板(3)靠近滑动杆(63)的一侧，所述定位架(72)的上开设有将两侧贯通的滑槽(73)，所述滑槽(73)的内壁之间对称滑动连接有锁闩(74)，所述锁闩(74)相靠近的一侧均开设有连通槽(75)，所述锁闩(74)的两侧对称开设有与连通槽(75)相连通的传动槽(76)，所述盖板(3)远离定位架(72)的一侧滑动连接有操作块(77)，所述操作块(77)的一侧延伸至滑槽(73)的内部且固定连接有联动杆(78)，所述联动杆(78)的两端均延伸至连通槽(75)的内部且固定连接有传动杆(79)，所述传动杆(79)与传动槽(76)滑动连接，所述操作块(77)的底部开设有复位槽(8)，所述复位槽(8)内壁的一侧与盖板(3)之间固定连接有复位弹簧(9)，所述操作块(77)上还开设有手提槽(10)，所述底座(4)内壁的一侧固定连接有定位座(71)，所述定位座(71)内壁的两侧对称开设有卡槽，所述底座(4)的一侧开设有贯通至定位座(71)内部的通槽。

5.根据权利要求4所述的一种集成电路芯片抗压测试装置，其特征在于：所述锁闩(74)相远离的一侧均设置有斜面。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片抗压测试装置，其特征在于：所述检测组件包括安装架(15)，所述安装架(15)固定连接在操作平台(14)的顶部，所述安装架(15)的顶部固定连接有电路板(16)，所述电路板(16)的底部固定连接有多个固定板(17)，所述固定板(17)的外侧且位于电路板(16)焊接孔的下方均设置有弹簧片(18)，所述弹簧片(18)与检测仪(2)的信号输入端电性连接。

7.根据权利要求1所述的一种集成电路芯片抗压测试装置，其特征在于：所述盖板(3)靠近滑动杆(63)的一侧固定连接有垫板(12)，所述垫板(12)远离盖板(3)的一侧设置有密封条(13)。