1.一种异物检测装置，其特征在于，包括：

清扫壳体，其前后两端转动连接有清扫辊；

转动连接于所述壳体的内部的检测机构，所述检测机构包括转动轴和套设于所述转动轴上的若干均匀布置的转动套，若干所述转动套沿所述转动轴的径向滑动连接，所述转动套在与异物接触时沿所述转动轴的径向偏移；

滑动连接于所述清扫壳体的内部的打磨头，所述打磨头对检测到的异物进行打磨，所述打磨头设置于所述检测机构的后端。

2.根据权利要求1所述的异物检测装置，其特征在于，所述转动轴的外壁设有若干均匀设置的第一球槽，若干所述第一球槽的内部连接有第一球形头，所述转动套的内部设有若干与所述第一球槽对应设置的第二球槽，所述第二球槽的内部连接有第二球形头，所述第一球形头和第二球形头滑动配合。

3.根据权利要求2所述的异物检测装置，其特征在于，所述第一球形头的外部固设有滑套，所述第二球形头的外部设有与所述滑套配合的滑动柱，所述滑动柱滑动连接于所述滑套的内部，所述滑套的内侧的底部与所述滑动柱的顶部之间设有推力弹簧，每个所述转动套的内部至少设有三个第二球槽。

4.根据权利要求1～3任一项所述的异物检测装置，其特征在于，所述壳体的内部设有若干与所述转动套对应设置的位置传感器，每个所述位置传感器检测对应的所述转动套的位置信息，所述转动轴的两端设有限制所述转动套的轴线位置的限位凸缘。

5.根据权利要求4所述的异物检测装置，其特征在于，所述清扫壳体的内部设有与所述转动轴的轴线平行设置的滑动杆，所述打磨头的顶部设有滑动连接于所述滑动杆上的底座，所述底座带动所述打磨头在所述滑动杆上移动。

6.根据权利要求5所述的异物检测装置，其特征在于，所述底座与打磨头之间通过伸缩气缸连接，所述伸缩气缸的输出端固设有驱动打磨头转动的转动电机，所述清扫壳体的外部设有驱动所述清扫辊转动的驱动电机。