1.一种基于纯光学检测有机发光二极管老化的方法，首先将待测OLED面板放置在指定测试槽，其特征在于，对OLED面板通电，不断刷新OLED面板中正负极间电流强度，使得OLED面板每个元素中的原色点应当输出的光信号强度不断变化，使得所述待测OLED面板中的每个像素所发的光信息透过对应的滤光层，所述滤光层的通光状态能够随所述待测OLED面板刷新的电信号状态而变化，所述滤光层平面分布多个滤光单元，每个所述滤光单元覆盖若干个所述OLED面板的像素点，每个所述滤光单元周围围有隔光栅，所述隔光栅纵向贯穿所述滤光层，所述滤光层后衍生有感光层，所述感光层设置有多个感光单元，所述感光单元用于采集透过所述滤光层的光信号，每个所述感光单元包括若干个感光器，对每个所述感光器的电学指标进行采集，并对所采集的电学指标进行分析，得到每个感光器所接受光信号的强度，其中每次刷新施加在所述待测OLED面板的电流信号，得到一组感光器所输出的电学信号数据组，对每个所述电学信号数据组进行判断。

2.根据权利要求1所述的一种基于纯光学检测有机发光二极管老化的方法，其特征在于，所述感光单元外侧连接有显像单元，每个所述感光器与所述待测OLED面板上对应的一个或多个像素点相邻的所有像素点光隔离。

3.根据权利要求2所述的一种基于纯光学检测有机发光二极管老化的方法，其特征在于，每个所述感光单元包括若干感光器，每一个感光器对应一个所述待测OLED面板中的像素点。

4.根据权利要求1所述的一种基于纯光学检测有机发光二极管老化的方法，其特征在于，所述滤光层尺寸大于所述OLED面板尺寸，在放置OLED面板时，将所述感光单元对齐所述OLED面板的相应像素。

5.根据权利要求4所述的一种基于纯光学检测有机发光二极管老化的方法，其特征在于，在对OLED面板上电时，选取若干个像素点作为校准点，施加强电流，并在所述感光层确定校准点位置，实现OLED面板与所述滤光层和感光层的对齐。

6.根据权利要求1‑5任意一项所述的一种基于纯光学检测有机发光二极管老化的方法，其特征在于，所述滤光层包括两层光栅层和一层液晶层，所述液晶层设置有电极，能够改变通过所述液晶层光束的偏振方向，两层所述光栅层的偏振方向不同，所述液晶层夹于两层所述光栅层之间，所述光栅层侧的光束能够通过所述液晶层和所述光栅层射向所述感光层。

7.根据权利要求6所述的一种基于纯光学检测有机发光二极管老化的方法，其特征在于，所述感光单元包括感光器，所述感光器以SOI为基底，为横向结构的光电二极管。

8.根据权利要求7所述的一种基于纯光学检测有机发光二极管老化的方法，其特征在于，每个所述感光器包括基底、隔离层和功能层，所述功能层包括两个电极N区和P区，两个电极间设置有倍增区和吸收区。

9.根据权利要求8所述的一种基于纯光学检测有机发光二极管老化的方法，其特征在于，还包括连接层，所述连接层用于对所述感光层进行封装，并将所述感光器中的各个电极引出在所述连接层外表面，用于作为其他测试线路引脚。