1.一种用于集成电路的器件模拟方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：获取集成电路器件数据；对集成电路器件数据进行多维多维拓扑特征提取，并进行冗余特征剔除，生成器件主特征矩阵；

步骤S2：对器件主特征矩阵进行嵌入层次化分析，生成器件层次嵌入图矩阵；对器件层次嵌入图矩阵进行模块图论层次聚类，生成器件层次结构；

步骤S3：对器件主特征矩阵进行潜在元件链接概率预测，并进行元件链接关系拓扑分析，生成元件链接关系；

步骤S4：基于器件层次结构及元件链接关系对器件主特征矩阵进行器件单元构建，以生成仿真电路器件单元；

步骤S5：根据集成电路器件数据对仿真电路器件单元进行电路集成模拟，并进行缺陷器件优化，得到优化集成电路器件数据。

2.根据权利要求1所述的用于集成电路的器件模拟方法，其特征在于，步骤S1包括以下步骤：步骤S11：获取集成电路器件数据；

步骤S12：对集成电路器件数据进行几何特征提取，得到器件几何特征数据；

步骤S13：对集成电路器件数据进行拓扑特征提取，得到器件拓扑链接特征数据；

步骤S14：对器件几何特征数据和器件拓扑链接特征数据进行特征空间融合，生成融合特征空间矩阵；

步骤S15：对融合特征空间矩阵进行特征冗余成分剔除，生成器件主特征矩阵。

3.根据权利要求1所述的用于集成电路的器件模拟方法，其特征在于，步骤S2包括以下步骤：步骤S21：对器件主特征矩阵进行图结构映射处理，得到特征代表图集；

步骤S22：对特征代表图集进行嵌入层次化分析，生成器件层次嵌入图矩阵；

步骤S23：对器件层次嵌入图矩阵进行模块主体识别，得到独立功能模块数据；

步骤S24：对独立功能模块数据进行图论层次聚类，生成器件层次结构。

4.根据权利要求3所述的用于集成电路的器件模拟方法，其特征在于，步骤S22包括以下步骤：步骤S221：对特征代表图集进行层次初步聚类，得到初步聚类结果；

步骤S222：对初步聚类结果进行层次结构搭建，生成层次结构图；

步骤S223：对层次结构图进行类别间矩阵相似度计算，得到类别相似度；当类别相似度大于预设的相似度阈值时，基于类别相似度对层次结构图进行结构模块度优化，得到相似矩阵层次图；

步骤S224：对相似矩阵层次图进行矩阵拓扑分析，生成器件层次嵌入图矩阵。

5.根据权利要求1所述的用于集成电路的器件模拟方法，其特征在于，步骤S3包括以下步骤：步骤S31：对器件主特征矩阵进行高维特征空间投影，得到投影特征矩阵；

步骤S32：对投影特征矩阵进行元件组密度基础聚类，生成潜在元件组数据；

步骤S33：基于潜在元件组数据对器件主特征矩阵进行元件链接概率预测，得到预测元件链接概率；

步骤S34：基于预测元件链接概率对器件主特征矩阵进行元件链接关系拓扑分析，生成元件链接关系。

6.根据权利要求5所述的用于集成电路的器件模拟方法，其特征在于，步骤S33包括以下步骤：步骤S331：对潜在元件组数据进行特征向量映射，得到潜在元件组特征矩阵；

步骤S332：对潜在元件组特征矩阵和器件主特征矩阵进行相似性评估，得到矩阵相似性数据；

步骤S333：基于矩阵相似性数据对潜在元件组特征矩阵及器件主特征矩阵进行潜在连接映射，生成元件潜在连接矩阵；

步骤S334：对元件潜在连接矩阵进行元件连接概率预测，得到预测元件链接概率。

7.根据权利要求5所述的用于集成电路的器件模拟方法，其特征在于，步骤S34包括以下步骤：步骤S341：对预测元件链接概率进行加权无向图构建，得到初步拓扑结构；

步骤S342：对初步拓扑结构进行弱链接过滤，生成强链接拓扑结构；

步骤S343：对强链接拓扑结构进行连通性分析，得到最大连通分量；

步骤S344：基于最大连通分量对初步拓扑结构进行关键子图识别，得到关键子图；

步骤S345：对关键子图进行介数中心性分析，得到关键链接数据；根据关键链接数据对关键子图进行度中心性分析，生成关键节点数据；

步骤S346：基于关键链接数据及关键节点数据对器件主特征矩阵进行元件链接关系拓扑分析，生成元件链接关系。

8.根据权利要求1所述的用于集成电路的器件模拟方法，其特征在于，步骤S4包括以下步骤：步骤S41：根据器件层次结构对器件主特征矩阵进行集成模块分组，得到集成电路模块特征数据；

步骤S42：对元件链接关系进行虚拟电路连接编排，生成虚拟连接电路；

步骤S43：对集成电路模块特征数据和虚拟连接电路进行电路器件仿真驱动处理，得到仿真电路器件单元。

9.根据权利要求1所述的用于集成电路的器件模拟方法，其特征在于，步骤S5包括以下步骤：步骤S51：对集成电路器件数据进行器件定位提取，得到电路器件布局定位；

步骤S52：基于电路器件布局定位对仿真电路器件单元进行电路集成模拟，得到模拟集成电路；

步骤S53：对模拟集成电路进行仿真环境场构建，生成仿真电路工作环境场；

步骤S54：根据仿真电路工作环境场对模拟集成电路进行电路工作模拟，并进行电路各器件性能监控，得到电路器件性能数据；

步骤S55：当电路器件性能数据小于预设的电路器件性能阈值时，基于电路器件性能数据对仿真电路器件单元进行缺陷器件优化，得到优化集成电路器件数据。

10.根据权利要求9所述的用于集成电路的器件模拟方法，其特征在于，基于电路器件性能数据对仿真电路器件单元进行缺陷器件优化包括以下步骤：根据预设的标准器件性能数据对电路器件性能数据进行初始补偿参数调整，得到初始补偿数据；

对初始补偿数据进行差分进化分析，生成候选补偿数据；

对候选补偿数据进行粒子群优化局部搜索，得到局部优化候选补偿数据；

基于局部优化候选补偿数据对仿真电路器件单元进行补偿后性能评估，生成局部补偿性能结果；

利用局部补偿性能结果对候选补偿数据进行搜索参数调整，得到优化调整搜索参数；

重复上述步骤，直至局部补偿性能结果大于等于预设的标准器件性能数据；

根据局部补偿性能结果对仿真电路器件单元进行缺陷器件优化，得到优化集成电路器件数据。