1.一种存储设备的IO性能测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

S100，搭建负载测试环境，在负载测试环境中配置存储设备；

S200，对存储设备进行IO负载测试，记录存储设备在IO负载测试过程中的性能数据；

S300，对所述性能数据进行失衡落点检测，得到失衡数据；

S400，利用失衡数据构建失衡测定模型。

2.根据权利要求1所述的一种存储设备的IO性能测试方法，其特征在于，步骤S100中，搭建负载测试环境，在负载测试环境中配置存储设备的方法具体为：配置物理主机，将所述物理主机作为测试环境，将存储设备接入该测试环境中，并在接入测试环境后的存储设备上创建至少一个分区。

3.根据权利要求1所述的一种存储设备的IO性能测试方法，其特征在于，步骤S200中，对存储设备进行IO负载测试，记录存储设备在IO负载测试过程中的性能数据的方法具体为：对存储设备进行分区预处理，通过IOmeter对分区预处理完成后的存储设备进行时长为T的负载测试，记录所述负载测试过程存储设备的实时IOPS，将负载测试过程中的实时IOPS作为存储设备在IO负载测试过程中的性能数据；所述T设置为[30,120]分钟。

4.根据权利要求3所述的一种存储设备的IO性能测试方法，其特征在于，所述分区预处理的步骤具体包括：按照顺序写入的方式对存储设备进行零填充直至写满存储设备，对存储设备进行数据清零，按照随机写入的方式对存储设备进行零填充直至写满存储设备，对存储设备进行二次数据清零，将完成二次数据清零的存储设备作为分区预处理完成后的存储设备。

5.根据权利要求1所述的一种存储设备的IO性能测试方法，其特征在于，步骤S300中，对所述性能数据进行失衡落点检测，得到失衡数据的方法具体为：S301，读取性能数据中的所有数据，创建一个空白的数组perf[]，按照所述数据的记录时间的先后顺序，依次将性能数据中的每一个数据写入至数组perf[]中，以perf(i)表示数组perf[]内的第i个元素，i＝1,2,…,N，N为数组perf[]内的所有元素，初始化一个整数变量j，变量j的初始值设置为1，变量j的取值范围为[1,N]，创建一个长度为N的数组woo[]，将数组woo[]内的所有元素的值都初始化为0，记woo(i)为数组woo[]内的第i个元素，从j＝1开始遍历变量j，转至S302；其中，N的值为时长T的总秒数；

S302，记pra(j)＝1‑N*(perf(j)/mea(perf))，并将当前pra(j)的值赋予woo(j)，转到S303；其中，mea(perf)代表数组perf[]内所有元素的平均值；

S303，如果当前变量j的值小于N，则将变量j的值增加1，并转至S302；如果当前变量j的值等于或大于N，则转至S304；

S304，以mea(woo[])表示数组woo[]内所有元素的均值，创建一个空白的数组mas[]，将变量j的值重置为1，转至S305；

S305，判断当前|1/(1‑perf(j))|的值是否小于|mea(woo[])|/perf(j)；

记A1＝|1/(1‑perf(j))|，记A2＝|mea(woo[])|/perf(j)；如果A1＜A2，则将当前woo(j)的值加入到数组mas[]中；其中，|1/(1‑perf(j))|表示对1/(1‑perf(j))取绝对值，|mea(woo[])|表示对mea(woo[])取绝对值；

转至S306；

S306，如果当前变量j的值小于N，则将变量j的值增加1，并转至S305；如果当前变量j的值等于或大于N，则转至S307；

S307，记数组mas[]内所有元素的数量为N1，以mas(i1)表示数组mas[]内的第i1个元素，i1＝1,2,…,N1，将N1个数据mas(1),mas(2),…,mas(N1)作为失衡数据。

6.根据权利要求1所述的一种存储设备的IO性能测试方法，其特征在于，进一步地，步骤S400中，利用失衡数据构建失衡测定模型的方法具体为：S401，创建一个空白的数组ove[]，分别初始化变量j1、变量j2、变量j3，j1和j2的初始值都设置为1，j1和j2的取值范围都设置为[1,N1]，j3的初始值设置为0，N1为数组mas[]内所有元素的数量，从j1＝1和j2＝1开始遍历变量j1和变量j2，转至S402；

S402，在数组mas[]中，比较当前mas(j1)的值和当前mas(j2)的值；如果mas(j1)＞mas(j2)，则令j3的值增加1；

转至S403；

S403，如果当前变量j2的值小于N1，则令j2的值增加1，并转至S402；如果当前变量j2的值等于或大于N1，则将当前变量j3的值加入到数组ove[]中，转至S404；

S404，如果当前变量j1的值小于N1，则将变量j3的值重置为0，将变量j2的值重置为1，同时将变量j1的值增加1，转至S402；如果当前变量j1的值等于或大于N1，则转至S405；

S405，以ove(i1)表示数组ove[]中的第i1个元素，建立失衡测定模型Imba(x)：其中，sum(mas)代表数组mas[]内所有元素的总和，x为模型变量。

7.根据权利要求1所述的一种存储设备的IO性能测试方法，其特征在于，步骤S400中，利用失衡数据构建失衡测定模型，还包括：对存储硬盘进行M次IO负载测试，得到M组性能数据，计算M组性能数据中每组性能数据的平均值，以ext(i3)表示M组性能数据中第i3组性能数据的平均值，i3＝1,2,…,M；所述M设置为[10,30]；

其中，对存储硬盘进行负载测试的方法为：通过IOmeter对存储设备进行时长为T的负载测试，记录所述负载测试过程存储设备的实时IOPS，将负载测试过程中的实时IOPS作为存储设备在IO负载测试过程中的性能数据；

分别将ext(1),ext(2),…,ext(M)作为模型变量x输入到失衡测定模型Imba(x)中，从而得到M个值Imba(ext(1)),Imba(ext(2)),…,Imba(ext(M))，记ImbaA＝[Imba(ext(1))+Imba(ext(2))+…++Imba(ext(M))]/M；

如果Imba(ext(1)),Imba(ext(2)),…,Imba(ext(M))中存在任意两个值之间的差值的绝对值大于ImbaA，则对存储设备的闪存颗粒进行更换。