1.一种光电子器件测试装置，包括装置架(1)，其特征在于：所述装置架(1)的顶部焊接有侧架(2)，所述侧架(2)的前端面通过驱动机构滑动安装有光学显微镜(6)，所述装置架(1)的顶部通过振动机构活动安装有基座(10)，所述基座(10)的顶部设置有测试台(12)，所述测试台(12)的内侧设置有拦阻机构。

2.根据权利要求1所述的一种光电子器件测试装置，其特征在于：所述驱动机构包括固定连接在侧架(2)内侧的限位导杆(3)，所述侧架(2)的外表面固定安装有电机(4)，所述电机(4)的输出端固定连接有丝杆(5)，所述丝杆(5)穿过光学显微镜(6)的内侧并与其螺纹配合。

3.根据权利要求1所述的一种光电子器件测试装置，其特征在于：所述振动机构包括固定连接在装置架(1)顶部的底台(7)，所述底台(7)的顶部设置有弹簧(8)。

4.根据权利要求3所述的一种光电子器件测试装置，其特征在于：所述弹簧(8)的顶部固定连接有顶台(9)，所述顶台(9)的顶部与基座(10)的底部固定连接，所述基座(10)的底部固定安装有振动电机(11)。

5.根据权利要求1所述的一种光电子器件测试装置，其特征在于：所述拦阻机构包括开设在测试台(12)顶部的测试槽(13)，所述测试槽(13)的内壁开设有卡槽(14)。

6.根据权利要求5所述的一种光电子器件测试装置，其特征在于：所述测试槽(13)内壁远离卡槽(14)的一侧固定连接有弹性橡胶绳(15)，所述弹性橡胶绳(15)靠近卡槽(14)的一端设置有吸盘(16)。