1.一种硅片检测工作台，包括工作台本体(1)，其特征在于：所述工作台本体(1)上方固定连接工作板(4)，所述工作板(4)表面固定连接限位框(23)，所述限位框(23)内部镶嵌密封箱(24)，密封箱(24)设有两个，所述密封箱(24)顶部镶嵌密封条(25)，所述密封箱(24)内部镶嵌隔板(29)，所述密封箱(24)顶部设有顶盖(7)，所述顶盖(7)侧面固定连接第一固定板(26)，所述密封箱(24)侧面固定连接第二固定板(28)，所述第一固定板(26)表面设有限位板(27)，所述限位板(27)外部设有固定扣(30)，所述第二固定板(28)表面固定连接卡扣(31)，所述固定扣(30)插在卡扣(31)内部。

2.根据权利要求1所述的硅片检测工作台，其特征在于：所述工作板(4)表面设有挡板(5)，所述挡板(5)与工作板(4)通过转轴连接，所述挡板(5)表面固定连接固定块(8)，所述固定块(8)内部镶嵌插杆(17)，所述插杆(17)一端套有第一限位环(16)，所述插杆(17)一端套有第二限位环(20)，所述第二限位环(20)表面粘接磁吸环(18)，所述固定块(8)表面粘接金属环(19)，所述第二限位环(20)表面固定连接拉杆(21)。

3.根据权利要求1所述的硅片检测工作台，其特征在于：所述密封箱(24)侧面固定连接连接块(14)，所述连接块(14)设有两个，所述连接块(14)侧面设有转动块(22)，所述转动块(22)一端固定连接顶盖(7)。

4.根据权利要求2所述的硅片检测工作台，其特征在于：所述挡板(5)表面镶嵌磁吸条(9)，所述工作板(4)侧面镶嵌金属条(10)。

5.根据权利要求1所述的硅片检测工作台，其特征在于：所述工作板(4)表面固定连接围板(2)，所述工作台本体(1)下方固定连接底板(3)，所述工作板(4)下方固定连接侧板(32)，所述侧板(32)侧面设有置物板(13)，所述侧板(32)侧面设有滑槽(11)，所述滑槽(11)内部设有滑块(12)，所述滑块(12)侧面固定连接抽屉(6)，所述抽屉(6)表面固定连接把手。

6.根据权利要求1所述的硅片检测工作台，其特征在于：所述工作台本体(1)下方粘接防滑条(15)，所述防滑条(15)设有两个。