1.一种电子元器件测试探针，包括针管(1)和针身(101)，所述针身(101)穿插设置在针管(1)内部，其特征在于：所述针管(1)内腔设置有弧形圈(102)，所述针身(101)一端外表面设置有弧形凸起(103)，所述针管(1)内腔设置有连接机构(2)，所述针身(101)外表面设置有防护机构(3)；

连接机构(2)，包括固定连接在针管(1)内腔底部的弹簧(201)，所述弹簧(201)一端固定连接有球形连接件(202)；

防护机构(3)，包括固定连接有针身(101)外表面的固定圈(301)，所述固定圈(301)内腔穿插设置有滑动杆(302)。

2.根据权利要求1所述的一种电子元器件测试探针，其特征在于：所述针身(101)靠近弧形凸起(103)一端开设有弧形槽(203)，所述球形连接件(202)外表面与弧形槽(203)抵接。

3.根据权利要求1所述的一种电子元器件测试探针，其特征在于：所述针身(101)远离弧形凸起(103)一端内腔设置有连接杆(204)，所述连接杆(204)一端固定连接有针头(205)。

4.根据权利要求3所述的一种电子元器件测试探针，其特征在于：所述针身(101)内壁与弧形凸起(103)外表面均设置有螺纹，所述针身(101)与连接杆(204)螺纹连接。

5.根据权利要求1所述的一种电子元器件测试探针，其特征在于：所述滑动杆(302)一端固定连接有透明防护罩(303)，所述滑动杆(302)外表面套设有连接弹簧(304)。

6.根据权利要求5所述的一种电子元器件测试探针，其特征在于：所述连接弹簧(304)两端分别与固定圈(301)和透明防护罩(303)固定连接。