1.射频测试座的连接结构，用于射频电路板的测试环节，其特征在于，包括：测试座（1），其上表面向下凹陷形成有用于容置射频电路板的容置槽（2）；

L型板（8），设置在所述测试座（1）的旁边，所述L型板（8）上安装有竖向布置的电动推杆（6）；

方管（5），水平布置在所述电动推杆（6）的活动端，所述方管（5）内插接有方杆（10）；

螺杆（11），设置在所述方管（5）的端头位置处；及

导电头（13），设置在所述螺杆（11）的端头处，用于连接射频电路板上PAD焊盘和测试仪器上电性连接的测试线束。

2.根据权利要求1所述的射频测试座的连接结构，其特征在于，所述螺杆（11）一端连接固定有竖向布置的绝缘杆（4），所述导电头（13）安装在所述绝缘杆（4）下端。

3.根据权利要求2所述的射频测试座的连接结构，其特征在于，所述导电头（13）上表面向下凹陷形成螺纹盲孔，所述绝缘杆（4）下端外表面加工有外螺纹，所述绝缘杆（4）下端螺纹连接在螺纹盲孔内。

4.根据权利要求1所述的射频测试座的连接结构，其特征在于，所述方杆（10）滑动插接在所述方管（5）内且位置是可调的。

5.根据权利要求4所述的射频测试座的连接结构，其特征在于，所述方管（5）上开设有螺纹孔（15），所述螺纹孔（15）中适配有可与所述方杆（10）表面抵紧的夹紧螺丝（9）。

6.根据权利要求1所述的射频测试座的连接结构，其特征在于，所述方杆（10）的端头处开设有穿插孔（14），所述螺杆（11）穿接在所述穿插孔（14）内。

7.根据权利要求6所述的射频测试座的连接结构，其特征在于，所述方杆（10）与所述螺杆（11）相垂直。

8.根据权利要求1所述的射频测试座的连接结构，其特征在于，所述方管（5）面向L型板（8）的一面固定连接有限位板（7），所述限位板（7）远离方管（5）的一端与L型板（8）的竖直部滑动接触。

9.根据权利要求8所述的射频测试座的连接结构，其特征在于，所述限位板（7）上在临接所述L型板（8）的一侧处设置有导轮。

10.根据权利要求1所述的射频测试座的连接结构，其特征在于，所述试座（1）上还设置将其固定在工作台的固定耳（3）。