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一种微控制器应用功能性能完整性测试方法及系统
￥36000
专利号： 2023113448937
申请人： 北京航空航天大学
专利类型：发明专利
专利状态：已下证
更新日期：2026-06-24
缴费截止日期： 暂无
国家局暂未公布该信息
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