1.瓷绝缘子表面开裂缺陷识别方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、采集瓷绝缘子表面缺陷图像；

步骤二、对瓷绝缘子缺陷图像进行标准化和归一化处理；

步骤三、利用DCN‑bifpn模块改进YOLOV5s网络，并对缺陷数据进行检测和识别；

利用DCN‑bifpn模块替换neck层P6的concat模块，并将bifpn模块中conv模块替换为DCN模块，DCN‑bifpn模块自适应调整卷积核的形状和大小，用可学习的偏移量来预测每个位置的卷积核形状和大小；使用插值公式计算插值位置，并在不同尺度的特征图之间建立连接，处理不同大小和形状的目标；

利用DCN‑C3ECA模块改进YOLOV5s网络，将检测层ASFF‑Detect模块的三个C3输入模块替换为DCN‑C3ECA模块；

DCN‑C3ECA模块首先将C3ECA模块中的conv模块替换为DCN模块，其次将C3ECA模块中ECAbottleneck模块的第一卷积层替换为DCN模块，通过DCN‑C3ECA模块对特征图进行缩放，增强图像特征表达能力；

DCN模块包括两个卷积层，首先通过第一卷积层进行卷积操作，第一卷积层的卷积核大小为 3x3，步长为 3，填充为 1，输出通道数为256；其次，通过第二卷积层生成偏移量，第二卷积层的卷积核大小为 3x3，步长为 1，填充为 1，输出通道数为18。

2.根据权利要求1所述的瓷绝缘子表面开裂缺陷识别方法，其特征在于，对缺陷图像进行清洗和增强，数据增强包括旋转、翻转、平移和缩放。

3.根据权利要求1所述的瓷绝缘子表面开裂缺陷识别方法，其特征在于，标准化和归一化处理包括：标准化是将图像数据转化为特定大小的张量后减去均值，归一化是将图像数据进行方差归一化。

4.瓷绝缘子表面开裂缺陷识别系统，其特征在于，包括：存储器，用于存储可由处理器执行的指令；处理器，用于执行指令以实现如权利要求1‑3任一项所述的瓷绝缘子表面开裂缺陷识别方法。

5.存储有计算机程序代码的计算机可读介质，其特征在于，计算机程序代码在由处理器执行时实现如权利要求1‑3任一项所述的瓷绝缘子表面开裂缺陷识别方法。