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专利号: 2023104293157
申请人: 山东科技大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2025-10-27
缴费截止日期: 暂无
联系人

摘要:

权利要求书:

1.一种隧道洞周形变无基准测量方法,其特征在于,包括:

架设全站仪并埋设第一、第二反光片于隧道洞壁两侧,记录第一、第二反光片以及全站仪的安装位置;

转动全站仪照准第一反光片,将第一反光片的位置作为起始位置,再旋转全站仪照准第二反光片;

获取全站仪位置点与两个反光片之间的斜距、两个反光片之间的高差以及水平角,转动全站仪再照准第二反光片,获取第二反光片与全站仪位置点的垂直距离;

上述量测结束后,读取全站仪采集的数据,将数据进行转化,通过判断反光片偏移的方向,计算断面洞周位移收敛值;

通过判断反光片偏移的方向,计算断面洞周位移收敛值的方法包括两种方式,分别为偏移点相对于第一反光片位置点的对称点向上偏移和偏移点相对于第一反光片位置点的对称点向下偏移;

所述读取全站仪采集的数据,将数据进行转化的方式为采用数学方法,利用三角形勾股定理以及三角余弦定理计算洞周位移收敛值;

采用边角测量模式计算隧道洞周位移收敛值。

2.如权利要求1所述的一种隧道洞周形变无基准测量方法,其特征在于,当偏移点相对于第一反光片位置点的对称点向上偏移时,所述向上偏移包括正上方偏移、左上方偏移以及右上方偏移,此时,两个反光片之间的高差大于0。

3.如权利要求1所述的一种隧道洞周形变无基准测量方法,其特征在于,当偏移点相对于第一反光片位置点的对称点向下偏移时,所述向下偏移包括正下方偏移、左下方偏移以及右下方偏移,此时,两个反光片之间的高差小于0。

4.一种隧道洞周形变无基准测量集成系统,其特征在于,包括:

数据采集模块,用于架设全站仪并埋设第一、第二反光片于隧道洞壁两侧,记录第一、第二反光片以及全站仪的安装位置;转动全站仪照准第一反光片,将第一反光片的位置作为起始位置,再旋转全站仪照准第二反光片;

获取全站仪位置点与两个反光片之间的斜距、两个反光片之间的高差以及水平角,转动全站仪再照准第二反光片,获取第二反光片与全站仪位置点的垂直距离;

位移计算模块,用于读取全站仪采集的数据,将数据进行转化,通过判断反光片偏移的方向,计算断面洞周位移收敛值;

通过判断反光片偏移的方向,计算断面洞周位移收敛值的方法包括两种方式,分别为偏移点相对于第一反光片位置点的对称点向上偏移和偏移点相对于第一反光片位置点的对称点向下偏移;

所述读取全站仪采集的数据,将数据进行转化的方式为采用数学方法,利用三角形勾股定理以及三角余弦定理计算洞周位移收敛值;

采用边角测量模式计算隧道洞周位移收敛值。

5.如权利要求4所述的一种隧道洞周形变无基准测量集成系统,其特征在于,通过判断反光片偏移的方向,计算断面洞周位移收敛值的方法包括两种方式,分别为偏移点相对于第一反光片位置点的对称点向上偏移和偏移点相对于第一反光片位置点的对称点向下偏移。

6.如权利要求5所述的一种隧道洞周形变无基准测量集成系统,其特征在于,当偏移点相对于第一反光片位置点的对称点向下偏移时,所述向下偏移包括正下方偏移、左下方偏移以及右下方偏移,此时,两个反光片之间的高差小于0。

7.如权利要求5所述的一种隧道洞周形变无基准测量集成系统,其特征在于,当偏移点相对于第一反光片位置点的对称点向上偏移时,所述向上偏移包括正上方偏移、左上方偏移以及右上方偏移,此时,两个反光片之间的高差大于0。

8.一种终端设备,其特征在于,包括处理器和计算机可读存储介质,处理器用于实现各指令;计算机可读存储介质用于存储多条指令,所述指令适于由处理器加载并执行如权利要求1‑3中任一项所述的一种隧道洞周形变无基准测量方法。