1.一种高耐久性的射频同轴连接器测试件，其特征在于，包括母头外导体（1）和公头外导体（2），所述母头外导体（1）和所述公头外导体（2）之间通过连接螺套（3）连接，所述母头外导体（1）内朝向所述公头外导体（2）的一端设置有硬性接触件（4），所述硬性接触件（4）与所述公头外导体（2）的内部过盈配合连接，所述硬性接触件（4）和所述母头外导体（1）之间形成插拔槽（5），所述公头外导体（2）内对应所述插拔槽（5）的位置处设置有插接件（6），所述插接件（6）和所述插拔槽（5）相适配。

2.根据权利要求1所述的一种高耐久性的射频同轴连接器测试件，其特征在于：所述插接件（6）上朝向所述母头外导体（1）的一端内侧为斜坡结构，且所述插接件（6）和所述插拔槽（5）相插接连接。

3.根据权利要求1所述的一种高耐久性的射频同轴连接器测试件，其特征在于：所述插接件（6）和所述插拔槽（5）的连接处设置有密封环（7），所述插接件（6）上设置有用于放置所述密封环（7）的环形槽（8）。

4.根据权利要求1所述的一种高耐久性的射频同轴连接器测试件，其特征在于：所述插接件（6）上对应所述硬性接触件（4）的位置处设置有接触台阶（9），所述硬性接触件（4）和所述接触台阶（9）过盈配合连接。

5.根据权利要求1所述的一种高耐久性的射频同轴连接器测试件，其特征在于：所述母头外导体（1）和所述公头外导体（2）的内部通过所述硬性接触件（4）轴向接触连接。

6.根据权利要求1所述的一种高耐久性的射频同轴连接器测试件，其特征在于：所述硬性接触件（4）为一体式金属接触件。