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专利号: 2022222721905
申请人: 南阳市恒欣光学有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
更新日期:2026-05-22
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种光学元器件面精度检测装置,其特征在于:包括支撑机构组件(1)、转动机构组件(2)、调节承座口径大小机构组件(3)、定位机构组件(4)和固定机构组件(5);

所述支撑机构组件(1)的中心位置设有阶梯孔,且所述支撑机构组件(1)的一周均匀分布有三个槽口;

所述转动机构组件(2)的形状为阶梯状,且所述转动机构组件(2)得到中心位置设有用于检测的通孔,所述转动机构组件(2)可转动的插接在支撑机构组件(1)的阶梯孔内,且所述转动机构组件(2)的一周均匀分布有三个M4的螺纹孔;

所述调节承座口径大小机构组件(3)的一端设有一个φ4和一个φ2.5的通孔,所述调节承座口径大小机构组件(3)的另一端设有一个φ1.5的通孔;

所述定位机构组件(4)为直径为φ2.5的圆柱,且所述定位机构组件(4)贯穿支撑机构组件(1)上的槽口插接在调节承座口径大小机构组件(3)上的φ2.5通孔内;

所述固定机构组件(5)的一端穿过调节承座口径大小机构组件(3)上的φ4通孔与转动机构组件(2)上的M4螺纹孔螺纹连接。

2.根据权利要求1所述的一种光学元器件面精度检测装置,其特征在于:所述支撑机构组件(1)中心位置设有阶梯孔的两阶直径分别为φ90和φ94,且直径为φ94的阶梯孔在上方,所述转动机构组件(2)的两阶阶梯外径分别为φ90和φ94。

3.根据权利要求1所述的一种光学元器件面精度检测装置,其特征在于:所述均匀分布在支撑机构组件(1)上一周的三个槽孔的宽度和深度均为2.5mm。

4.根据权利要求3所述的一种光学元器件面精度检测装置,其特征在于:所述定位机构组件(4)与支撑机构组件(1)上的槽孔过盈配合,与调节承座口径大小机构组件(3)上的φ

2.5通孔间隙配合,且所述定位机构组件(4)的底部与调节承座口径大小机构组件(3)的下表面齐平。

5.根据权利要求1所述的一种光学元器件面精度检测装置,其特征在于:所述固定机构组件(5)的结构与螺栓结构类似,所述固定机构组件(5)底部的插入端设有转动机构组件(2)上的M4螺纹孔相适配的螺纹,其当固定机构组件(5)进入到转动机构组件(2)上的M4螺纹孔的底部后,固定机构组件(5)带有螺纹的部分完全进入到孔内。

6.根据权利要求1所述的一种光学元器件面精度检测装置,其特征在于:所述调节承座口径大小机构组件(3)的数量为三个,三个所述调节承座口径大小机构组件(3)上的φ4和φ2.5通孔的位置分别与转动机构组件(2)上的M4螺纹孔位置及支撑机构组件(1)上的槽孔的位置相对应。