1.一种圆形磁芯侧面缺陷检测装置，其特征在于，包括传送带、固定组件、检测组件；所述传送带沿固定方向运动，待测磁芯放置在所述传送带上，所述待测磁芯为并排放置的多个圆形磁芯，且所述待测磁芯轴线与所述传送带的运动方向垂直；所述固定组件用于对所述待测磁芯进行限位，使所述待测磁芯位于设定的检测区域内，且所述待测磁芯仅能在所述传送带的作用下绕所述待测磁芯的轴线旋转；所述检测组件用于对所述待测磁芯的侧面进行图像采样；所述传送带、固定组件、检测组件相配合，获得所述待测磁芯完整的侧面图像。

2.根据权利要求1所述的圆形磁芯侧面缺陷检测装置，其特征在于，所述固定组件包括：固定支架、夹紧装置、约束装置、阻挡装置；所述固定支架安装在所述传送带的上方，所述阻挡装置安装在所述传送带上，用于阻挡所述待测磁芯跟随所述传送带运动，所述阻挡装置与所述固定支架的相对位置保持不变；所述夹紧装置从所述待测磁芯的两端将其夹紧，使所述待测磁芯不发生轴向偏移，实现轴向限位，且所述待测磁芯能绕其轴线旋转；所述约束装置一端转动连接在所述固定支架上，另一端在所述待测磁芯到达所述待测区域后压紧所述待测磁芯，避免所述待测磁芯回滚，所述约束装置和所述阻挡装置共同作用，实现对所述待测磁芯的径向限位。

3.根据权利要求1所述的圆形磁芯侧面缺陷检测装置，其特征在于，所述检测组件包括光源和相机，所述光源用于提供稳定照明；所述相机固定在所述待测磁芯的正上方，用于拍摄所述待测磁芯的侧面图像，且所述相机的拍摄不会被遮挡。

4.根据权利要求2所述的圆形磁芯侧面缺陷检测装置，其特征在于，所述夹紧装置包括弹性元件和万向轮，弹性元件的一端与所述固定支架连接，另一端与所述万向轮连接；所述万向轮从两端夹紧所述待测磁芯，使所述待测磁芯的轴向位置不发生偏移，实现轴向限位，且所述待测磁芯仍可绕其轴线进行旋转；所述弹性元件用于调节对所述待测磁芯两端的挤压力度。

5.根据权利要求2所述的圆形磁芯侧面缺陷检测装置，其特征在于，所述阻挡装置选用能在每个所述圆形磁芯对应位置单独开关的挡板结构，用于使特定的单个圆形磁芯通过阻挡装置，随传送带运动。

6.根据权利要求3所述的圆形磁芯侧面缺陷检测装置，其特征在于，所述相机的参数与所述传送带的运动速度匹配，用于拍摄到清晰的图像。

7.根据权利要求3所述的圆形磁芯侧面缺陷检测装置，其特征在于，所述相机每次拍摄的图像均传送至处理器。

8.一种基于权利要求1‑7所述的圆形磁芯侧面缺陷检测装置的圆形磁芯侧面缺陷检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：使用所述圆形磁芯侧面缺陷检测装置对所述待测磁芯的侧面进行图像采样，传送至处理器，拼接后得到完整的圆形磁芯侧面图像，记为原始图像A；

S2：对所述原始图像A进行滤波和边缘检测，最终得到图像C；

S3：将所述图像C二值化，得到所述待测磁芯中的各个圆形磁芯的边界坐标，根据边界坐标信息将所述原始图像A进行分割，得到单个圆形磁芯侧面的图像S；

S4：对所述图像S进行阈值分割，得到初始缺陷特征的图像H；

S5：对所述图像H进行形态学处理，得到图像M；

S6：遍历所述图像H的所有列，若某一列中黑白像素比小于设定阈值，则认为该列像素为两圆形磁芯边界之间的缝隙区域，将整列像素置白，最终得到圆形磁芯的缝隙图像U；将所述图像M与所述图像U的对应坐标作差，用于去除所述圆形磁芯边界之间的缝隙区域对缺陷检测的干扰，得到优化后的圆形磁芯侧面缺陷特征的图像O；

S7：计算所述图像O中各缺陷的面积、长度和宽度，并判定某一缺陷的面积、长度、宽度是否均满足对应阈值，若均满足，则判定该缺陷为真；反之，则判定该缺陷为假，舍去；

S8：对S7中得到的判定为真的缺陷进行框出标记，得到最终带有标记的图像并输出，完成所述待测磁芯侧面缺陷的检测。

9.根据权利要求8所述的圆形磁芯侧面缺陷检测方法，其特征在于，所述S7具体通过以下步骤计算所述图像O中各缺陷的面积、长度和宽度：若某一像素点q位于以另一像素值相同的像素点p为中心、包含9个像素点的区域内，则称这两个像素是连通的，所有彼此连通的像素点构成的区域称为连通域；通过连通域，对所述图像O进行轮廓寻找，得到各缺陷的轮廓，由此计算各缺陷的面积、长度和宽度。