1.一种原位应力调控二次谐波的测量装置，其特征在于，包括：

飞秒激光器（1），提供单色飞秒激光、以及沿所述单色飞秒激光的光路上依次布置的功率调节与测量模块、二向色镜、显微成像模块、应力施加模块和信号采集模块；

飞秒激光器（1）输出的飞秒激光通过所述功率调节与测量模块（2）调节激光功率与偏振后经所述二向色镜（3）进入显微成像模块（4），显微成像模块（4）将激光聚焦到应力施加模块（5）的样品上；反射的二次谐波信号经显微成像模块（4）收集之后依次经二向色镜（3）、反射镜进入信号采集模块（6）进行不同应力下功率依赖的二次谐波信号的采集。

2.根据权利要求1所述的原位应力调控二次谐波的测量装置，其特征在于，所述应力施加模块（5）通过转接臂（55）固定在三维位移平台上，包括：一维位移平台A、一维位移平台B以及通过压片安装在所述一维位移平台A、一维位移平台B之间的柔性衬底，所述样品放置在柔性衬底上。

3.根据权利要求1所述的原位应力调控二次谐波的测量装置，其特征在于，所述功率调节与测量模块包括：第一半波片、偏振片、折叠镜和功率计，通过第一半波片和偏振片实现激光功率与偏振的调节，通过折叠镜与功率计实现激光功率的测量，从而实现功率依赖二次谐波的测量。

4.根据权利要求3所述的原位应力调控二次谐波的测量装置，其特征在于，所述折叠镜为银镜安装在折叠镜架上，通过抬起折叠镜（23）将光引入功率计（24）进行功率的测量。

5.根据权利要求2所述的原位应力调控二次谐波的测量装置，其特征在于，所述显微成像模块包括：物镜镜头、薄膜分束镜、第一透镜、成像CCD以及照明光源，其中，通过物镜镜头进行激光的聚焦与二次谐波信号的收集，物镜镜头固定在所述三维位移平台上；通过薄膜分束镜分光经第一透镜进入成像CCD，实现激光光斑的成像与对准。

6.根据权利5要求所述的一种原位应力调控二次谐波的测量装置，其特征在于，所述信号采集模块（6）通过滤光片（61）将飞秒激光器（1）的激发光信号滤除，通过第二透镜（62）将二次谐波信号聚焦于光谱仪狭缝，光谱仪与计算机连接进行二次谐波光谱的采集。

7.根据权利6要求所述的一种原位应力调控二次谐波的测量装置，其特征在于，还包括插设在薄膜分束镜和物镜镜头之间光路上的第二半波片（8）、以及插设在所述反射镜（7）和滤光片（61）之间光路上的检偏片（9）。

8.一种基于权利要求6所述原位应力调控二次谐波的测量装置的测量方法，其特征在于，

飞秒激光器产生的单色飞秒激光首先进入功率调节与测量模块（2）进行功率和偏振的调节，通过调节第一半波片（21）相对偏振片（22）的角度来进行功率的调节，通过折叠镜（23）将激光引入功率计来进行功率的测量，从而进行应力调控下功率依赖的二次谐波测量；

显微成像模块（4）通过物镜镜头（44）将激光聚焦于应力施加模块（5）中的样品（51）表面，物镜镜头（44）固定在三维位移平台上；

薄膜分束镜（41）将一部分光通过第一透镜（42）聚焦后引入成像CCD，成像CCD与计算机连接，实现激光光斑的成像与对准，配合照明光源（45）实现样品（51）的观察；

调节一维位移平台之间的距离实现对柔性衬底（52）的弯曲从而给样品（51）施加上单轴拉伸应力；

调节三维位移平台，调整样品（51）在空间的位置，从而实现样品与激光的对准；样品（51）表面反射的二次谐波信号经物镜镜头（44）进入二向色镜（3），透过二向色镜（3）的二次谐波信号经反射镜（7）进入信号采集模块（6）；

信号采集模块（6）中的滤光片（61）将激发光滤除仅二次谐波信号通过，通过第二透镜（62）提高采集效率将二次谐波信号聚焦于光谱仪入口狭缝，光谱仪与计算机连接从而获得二次谐波的光谱。

9.根据权利要求8所述原位应力调控二次谐波的测量装置的测量方法，其特征在于，光路中插入第二半波片（8）、检偏片（9）可与功率调节与测量模块（2）联合，在不转动样品的情况下，通过调节第二半波片（8）相对偏振片（22）的角度进行应力调控下偏振依赖的二次谐波信号的收集。