1.一种窄线宽激光器线宽的检测装置的检测方法，其特征在于，所述窄线宽激光器线宽的检测装置包括：待测窄线宽激光器，光纤耦合器，延迟光纤，光纤偏振扰频器，掺铒光纤放大器，声光调制器，光纤耦合器，光纤滤波器，光电探测器，数据采集卡；所述待测窄线宽激光器与光纤耦合器的输入端相连，所述光纤耦合器输出的激光分二路，其中，一路与延迟光纤的输入端相连，另一路经声光调制器与光纤耦合器的输入端相连，所述光纤偏振扰频器与延迟光纤的另一个输入端相连，所述光纤偏振扰频器输出的激光与光纤掺铒光纤放大器的输入端相连，所述光纤掺铒光纤放大器的输出端与光纤耦合器的输入端相连，所述光纤耦合器的输出端与光纤滤波器的输入端相连，所述光纤滤波器的输出端与光电探测器的输入端相连，所述光电探测器对光纤滤波器输入的光进行相干处理，然后输入数据采集卡；

所述检测方法包括：

获取预先利用数据采集卡采集的数据信息；

将所述数据信息采用累加平均算法做信号预处理，获取预处理后的时域数据信息；

将所述预处理后的时域数据信息进行快速傅里叶变换，将时域数据信息转变为频域数据信息；

对所述频域数据信息采用滑动平均算法进行处理，得到滑动平均过的数据；

使用L‑M算法对所述滑动平均过的数据进行拟合，获取拟合后的数据；

将所述拟合后的数据通过延时自外差法检测线宽，计算出激光器线宽数据。

2.根据权利要求1所述的窄线宽激光器线宽的检测装置的检测方法，其特征在于，所述数据采集卡采用PICO采集卡。

3.根据权利要求1所述的窄线宽激光器线宽的检测装置的检测方法，其特征在于，所述数据采集卡的参数设定包括采样间隔、采样速率以及窗口功能。

4.根据权利要求1所述的窄线宽激光器线宽的检测装置的检测方法，其特征在于，将所述数据信息采用累加平均算法做信号预处理，包括：将所述数据信息通过累加平均算法进行过滤；根据累加次数的增大，不断滤除噪声，其中，累加次数的选择响应于人工选择信号。

5.根据权利要求1所述的窄线宽激光器线宽的检测装置的检测方法，其特征在于，所述快速傅里叶变换的参数设定包括采样点数和采样频率。

6.根据权利要求1所述的窄线宽激光器线宽的检测装置的检测方法，其特征在于，所述将所述拟合后的数据通过延时自外差法检测线宽，计算出激光器线宽数据，包括：将所述拟合后的数据输入电脑中，利用延时自外差法在电脑上获得一个洛伦兹线型频谱，其中，所述洛伦兹线型频谱的半峰全宽即为被测激光器的线宽。

7.一种窄线宽激光器线宽的检测装置的检测装置，适用于权利要求1所述的窄线宽激光器线宽的检测装置的检测方法，其特征在于，包括：获取单元，用于获取预先利用数据采集卡采集的数据信息；

预处理单元，用于将所述数据信息采用累加平均算法做信号预处理，获取预处理后的时域数据信息；

转换单元，用于将所述预处理后的时域数据信息进行快速傅里叶变换，将时域数据信息转变为频域数据信息；

处理单元，用于对所述频域数据信息采用滑动平均算法进行处理，得到滑动平均过的数据；

拟合单元，用于使用L‑M算法对所述滑动平均过的数据进行拟合，获取拟合后的数据；

计算单元，用于将所述拟合后的数据通过延时自外差法检测线宽，计算出激光器线宽数据。

8.一种电子设备，其特征在于：包括处理器及存储介质；

所述存储介质用于存储指令；

所述处理器用于根据所述指令进行操作以执行根据权利要求1～6任一项所述方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于：该程序被处理器执行时实现权利要求1～6任一项所述方法的步骤。