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一种基于超参数残差卷积与聚类融合的X光安检物品识别方法与系统
¥15600
专利号:
2022106372638
申请人:
大连东软信息学院
专利类型:
发明专利
专利状态:
已下证
更新日期:
2026-09-09
缴费截止日期:
暂无
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国家局暂未公布该信息
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