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专利号: 2022105403982
申请人: 重庆邮电大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
更新日期:2026-08-12
缴费截止日期: 暂无
联系人

摘要:

权利要求书:

1.基于微环谐振器和光学非易失存储材料的光时域微分器,其特征在于,其为全通型单微环谐振器,所述全通型单微环谐振器包括一个直波导与一个环形波导,在所述环形波导上具有Sb2Se3材料层,通过调节直波导自耦合系数与环形波导损耗系数的大小确定微分阶数。

2.根据权利要求1所述基于微环谐振器和光学非易失存储材料的光时域微分器,其特征在于:所述环形波导上的Sb2Se3材料层通过激光控制Sb2Se3材料晶化度的精度为1μm,Sb2Se3材料层的长度根据设计需求确定。

3.根据权利要求1或2所述基于微环谐振器和光学非易失存储材料的光时域微分器,其特征在于:通过调节Sb2Se3材料晶化度实现不同阶数的时域微分,具体体现为:Sb2Se3材料嵌入微环谐振器的环形波导上,当光脉冲信号耦合进微环谐振器后,不同晶化度的Sb2Se3材料对光脉冲产生不同的吸收损耗,从整体上看,在微环谐振器直波导的自耦和系数不变的情况下,不同晶化度的Sb2Se3材料所导致的环形腔损耗不同,进而使谐振频率处的相位跳变不同,从而实现不同的微分阶数。

4.根据权利要求3所述基于微环谐振器和光学非易失存储材料的光时域微分器,其特征在于:Sb2Se3晶化度影响微分阶数的具体过程为:在非晶态到晶态之间根据晶化度公式设置多个晶化度级别,具体公式如下:

其中,p为晶化度,εa和εc为在非晶态和晶态下的介电常数,εeff为Sb2Se3的介电常数,随着晶化度的增加,Sb2Se3折射率虚部增大,导致微环腔损耗增大,即 减小,在微环谐振器直波导的自耦合系数不变的情况下,即 不变,在谐振频率处的相位跳变减小,从而微分阶数减小,以此通过改变Sb2Se3的晶化度实现不同阶数的时域微分。