1.一种故障容错性测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取待测试验数据，将所述待测试验数据复制得到待测对照组数据；

确定翻转配置信息；将所述待测试验数据转换为二进制待测试验数据；将寄存器位翻转信息数据转换为二进制寄存器位翻转信息数据，其中所述二进制寄存器位翻转信息数据与所述二进制待测试验数据的位宽一一对应；根据二进制寄存器翻转信息数据将二进制待测试验数据进行取反，并将取反后的二进制待测试验数据输入至第一FPGA状态机中进行输出得到第一试验输出数据，并将所述待测对照组数据输入至第二FPGA状态机中进行直接输出得到对照组输出数据；

将所述第一试验输出数据和所述对照组输出数据进行对比，并获取第一比较结果，根据所述第一比较结果确定第一FPGA状态机的第一输出状态；

当所述第一输出状态为所述第一试验输出数据和所述对照组输出数据不一致时，则将配置信息设置为0，并重新将所述待测试验数据输入至第一FPGA状态机中进行输出得到第二试验输出数据；将所述第二试验输出数据和所述对照组输出数据进行对比，并获取第二比较结果；

当第二试验出数据与所述对照组输出数据不一致时，再次将翻转配置信息设置为0，若再次试验后的输出数据与对照组输出数据一致，说明状态机在较长一段时间后能够恢复正常；若再次试验后的输出数据与对照组输出数据不一致，说明状态机的故障在经历一段时间后仍然不能恢复正常，则继续进行多次试验进行检测，直至状态机恢复正常或者试验次数达到设定的最大次数。

2.根据权利要求1所述的故障容错性测试方法，其特征在于，所述确定翻转配置信息，包括：确定翻转配置信息为寄存器翻转起始时间、寄存器翻转持续时间以及寄存器位翻转信息。

3.根据权利要求1所述的故障容错性测试方法，其特征在于，所述将所述第一试验输出数据和所述对照组输出数据进行对比，并获取第一比较结果，根据所述第一比较结果确定所述第一FPGA状态机的第一输出状态，包括：当所述第一比较结果为所述第一试验输出数据和所述对照组输出数据完全相同时，确定所述第一输出状态为正常状态；

当所述第一试验输出数据和所述对照组输出数据的数据及数据量均不相同，确定所述第一输出状态为数据输出异常；

当所述第一比较结果为所述第一试验输出数据无数据输出，确定所述第一输出状态为状态机翻转异常状态。

4.根据权利要求3所述的故障容错性测试方法，其特征在于，所述当所述第一输出状态为所述第一试验输出数据和所述对照组输出数据不一致时，重新将所述待测试验数据输入至第一FPGA状态机中进行翻转输出得到第二试验输出数据，包括：根据所述第一输出状态，将所述第一FPGA状态机的所述翻转配置信息重置归零；

根据重置后的所述翻转配置信息，将所述待测试验数据输入至第一FPGA状态机中输出得到第二试验输出数据。

5.根据权利要求3所述的故障容错性测试方法，其特征在于，所述将所述第二试验输出数据和所述对照组输出数据进行对比，并获取第二比较结果，根据所述第二比较结果确定所述第一FPGA状态机的故障容错情况，包括：当所述第二比较结果为所述第二试验输出数据和所述对照组输出数据完全相同时，确定所述第一FPGA状态机受翻转影响后已恢复正常状态；

当所述第二比较结果为所述第二试验输出数据与所述对照组输出数据不一致，确定所述第一FPGA状态机受翻转影响后不能恢复正常状态。

6.一种故障容错性测试装置，其特征在于，包括：

复制模块，用于获取待测试验数据，将所述待测试验数据复制得到待测对照组数据；

第一数据输出模块，用于确定翻转配置信息；将所述待测试验数据转换为二进制待测试验数据；将寄存器位翻转信息数据转换为二进制寄存器位翻转信息数据，其中所述二进制寄存器位翻转信息数据与所述二进制待测试验数据的位宽一一对应；根据二进制寄存器翻转信息数据将二进制待测试验数据进行取反，并将取反后的二进制待测试验数据输入至第一FPGA状态机种进行输出得到第一试验输出数据，并将所述待测对照组数据输入至第二FPGA状态机中进行直接输出得到对照组输出数据；

第一输出状态确定模块，用于将所述第一试验输出数据和所述对照组输出数据进行对比，并获取第一比较结果，根据所述第一比较结果确定第一FPGA状态机的第一输出状态；

第二数据输出模块，用于当所述第一输出状态为所述第一试验输出数据和所述对照组输出数据不一致时，则将配置信息设置为0，并重新将所述待测试验数据输入至第一FPGA状态机中进行输出得到第二试验输出数据；将所述第二试验输出数据和所述对照组输出数据进行对比，并获取第二比较结果；

第二输出状态确定模块，用于当第二试验出数据与所述对照组输出数据不一致时，再次将翻转配置信息设置为0，若再次试验后的输出数据与对照组输出数据一致，说明状态机在较长一段时间后能够恢复正常；若再次试验后的输出数据与对照组输出数据不一致，说明状态机的故障在经历一段时间后仍然不能恢复正常，则继续进行多次试验进行检测，直至状态机恢复正常或者试验次数达到设定的最大次数。

7.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器，其中，

所述存储器，用于存储程序；

所述处理器，与所述存储器耦合，用于执行所述存储器中存储的所述程序，以实现上述权利要求1至5中任一项所述故障容错性测试方法中的步骤。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，用于存储计算机可读取的程序或指令，所述程序或指令被处理器执行时，能够实现上述权利要求1至5中任一项所述故障容错性测试方法中的步骤。